Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Достижение максимального тестового покрытия современных цифровых изделий с использованием периферийного сканирования - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Достижение максимального тестового покрытия современных цифровых изделий с использованием периферийного сканирования - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » События » Семинары » Достижение максимального тестового покрытия современных цифровых изделий с использованием периферийного сканирования

События

15 ноября 2012

Достижение максимального тестового покрытия современных цифровых изделий с использованием периферийного сканирования

Компания JTAG Technologies и ЗАО Предприятие Остек 15 Ноября 2012 года приглашают всех, кому интересна тема периферийного сканирования, а также тех, кто использует системы JTAG-тестирования и программирования в повседневной работе, на технический семинар «Достижение максимального тестового покрытия с использованием периферийного сканирования».

На семинаре будут раскрыты широкие возможности систем периферийного сканирования, грамотно используя которые, можно добиться реального контроля качества выпускаемой продукции, ускорения поиска и локализации дефектов при тестировании и диагностике собираемых изделий, снижения себестоимости ремонтов.

Будут рассмотрены: автоматическая генерация тестов, функциональный JTAG-тест цифровых и цифро-аналоговых узлов, работа с ядрами современных процессоров. В дополнение, будут раскрыты правила тестопригодного проектирования, следуя которым, достигается высокое тестовое покрытие.

Все доступные на сегодня средства и возможности автоматического JTAG-тестирования будут продемонстрированы на базе новейшей тренировочной платы от компании JTAG Technologies, имеющей на своем «борту» современный процессор с архитектурой ARM7, FPGA, ОЗУ DDR2, контроллеры Ethernet и USB, МЭМС, различные датчики с последовательной шиной, контроллеры сенсорных панелей и другие периферийные узлы.

Семинар состоится 15 Ноября 2012 года в Москве на территории ЗАО Предприятие Остек. Программу семинара можно посмотреть здесь.

Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из представленных ниже способов:

  • по электронной почте info@ostec-group.ru (указать: наименование мероприятия, дату проведения, город, Ф.И.О., должность, предприятие и контактный телефон);
  • на сайте ЗАО Предприятие Остек;
  • по телефону (495) 788-44-44;
  • по факсу: (495) 788-44-42.

Семинар будет проходить с 9:00 до 16:00. В 09:00 начало регистрации участников.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Заявки на участие принимаются до 13 ноября 2012 г.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies.




Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства