События
25 июня 2013
Международный МЭМС-Форум 2013. «МЭМС-датчики и малогабаритные системы. Сферы применения»
Изображение предоставлено ООО «Совтест АТЕ»
25 – 26 июня 2013 г., ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор», г. Санкт-Петербург, Россия
Международный программный и Организационный комитеты III Международного МЭМС-Форума приглашают специалистов по техническим и коммерческим вопросам предприятий и организаций, задействованных в сфере разработки, производства или применения (интеграции) микроэлектромеханических систем, экспертов в области МЭМС, исследователей, а также ученых, представляющих российские научные организации и образовательные учреждения, принять участие с 25 по 26 июня 2013 года в работе конференции.
Международный МЭМС-Форум 2013 «МЭМС-датчики и малогабаритные системы. Сферы применения» пройдет в Санкт-Петербурге на базе ведущего института России в области высокоточной навигации, гироскопии и морской радиосвязи – ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор». Мероприятие организовано «Русской Ассоциацией МЭМС» в сотрудничестве с ООО «Совтест АТЕ» (Россия), ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор» (Россия), Coventor Inc.(США) и при информационной поддержке европейской Ассоциации предприятий электронной и микросистемной индустрии Silicon Saxony e.V. и компании Maicom Quarz GmbH.
На сегодняшний день МЭМС-Форум является единственным в России мероприятием, сосредоточенным исключительно на вопросах разработки, производства и применения датчиков, основанных на микроэлектромеханических системах и перспективах развития российского рынка МЭМС.
По многочисленным просьбам постоянных участников Форума мероприятие 2013 года будет посвящено различным сферам применения МЭМС, современным материалам для производства МЭМС, а также новым достижениям на развивающихся отечественном и глобальном рынках МЭМС. Таким образом, основной задачей МЭМС-Форума 2013 является выявление новейших тенденций разработки и применения миниатюрных устройств и систем.
Учитывая потребности и пожелания российской аудитории, МЭМС-Форум 2013 направлен на рассмотрение акселерометров, гироскопов, датчиков давления, оптических сенсоров, МЭМС-сканеров, переключателей и ВЧ-устройств, изготовленных по технологии МЭМС, так как предыдущие мероприятия, проведенные РАМЭМС, выявили наибольший интерес именно к применению этих продуктов.
В рамках мероприятия ожидается участие более 100 делегатов из ведущих институтов и предприятий Бельгии, Франции, Германии, США, Белоруссии, Украины и, конечно, России.
Основными разделами конференции являются:
- Достижения микроэлектроники для здравоохранения и биотехнологий
- Будущее автопрома и других отраслей транспортной промышленности с миниатюрными датчиками
- Оптические сенсорные решения
- Микроэлектромеханические системы для суровых условий промышленной эксплуатации и авикосмической промышленности
- Беспроводные и проводные сенсорные решения, основанные на МЭМС
- Инерциальные МЭМС-системы
- Энергосбережение
- Системная интеграция
В рамках Форума также состоится заседание круглого стола, посвященного перспективам развития рынка МЭМС в России, на который приглашаются все желающие.
К обсуждению на круглом столе планируются следующие основные вопросы:
- Перспективы локализации внутри страны всей производственной цепочки МЭМС.
- Прогнозы развития рынка на 2013-15 гг.
- Определение эффективного пути развития российского направления МЭМС, получения доступа к передовым технологиям
- Роль сотрудничества с зарубежными компаниями
- Проблемы и трудности участников направления МЭМС в России и др.
Предварительная программа конференции:
Вторник, 25 июня 2013г.
8.00-9.00 Регистрация участников конференции. Корпус АДМ, 2 этаж, 214 комната
9.00-9.20 ОТКРЫТИЕ КОНФЕРЕНЦИИ. Конференц-зал, 4 этаж
В.Г. Пешехонов, проф., академик РАН, ГНЦ РФ ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор», Россия
Д.М. Урманов, к.т.н., РАМЭМС, Россия
И.В. Марков, ОАО «Совтест АТЕ», Россия
Секция 1: Перспективы применения МЭМС-устройств в медицине и автомобильной промышленности. Конференц-зал, корпус АДМ, 4 этаж
Председатели – В.Г. Пешехонов, проф., академик РАН, ГНЦ РФ ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор», Россия
И.В. Меркурьев, д.т.н., проф. НИУ «МЭИ», Россия
9.20-10.00 (Приглашенный доклад) МЭМС в микро- и наноэлектронном научном центре IMEC для промышленности, медицины и профилактики здоровья, к.т.н., В. Леонов, IMEC, Бельгия
Секция 2: Перспективы применения МЭМС-устройств в медицине и автомобильной промышленности. Конференц-зал
10.00-11.00 Тенденции применения МЭМС в автомобильной промышленности, К. Фитаман, Yole Developpеment, Франция
11.00-11.20 Перерыв
Секция 3: Новейшие материалы в производстве МЭМС. Конференц-зал, 4 этаж
Председатели – Д.М. Урманов, к.т.н., РАМЭМС, Россия
И.В. Меркурьев, д.т.н., проф. НИУ «МЭИ», Россия
11.20-11.45 Результаты проектирования датчиков давления с учетом перспектив развития САУ и диагностики в двигателестроении, Р.С. Коновалов, ОАО «ЭОКБ «Сигнал» им.А.И.Глухарева», Россия
11.45-12.30 Технологии изготовления новых материалов для нового поколения МЭМС, Д-р М. Роса, Applied Materials, США
12.30-13.00 (Тема выступления уточняется) Г. Марш, Maicom Quarz, Германия
Секция 4: Оптические сенсорные решения. Корпус АДМ, 2 этаж, 214 комната
11.20-12.10 Обзор оптических сенсоров по, сферам их применения, Д-р М. Шилгализ, First Sensor AG, Германия
12.10-13.00 Технологическая платформа для изготовления МЭМС-сканеров для спектрометра лазерной камеры и других применений в IPMS, Д-р. М. Мюллер, Fraunhofer Institute IPMS, Германия
13.00-14.00 Обед
Секция 5: Микроэлектромеханические системы для суровых условий промышленной эксплуатации и авиакосмической промышленности. Конференц-зал, 4 этаж
Председатели – Д.М. Урманов, к.т.н., РАМЭМС, Россия
Д-р Т.Тиеме, Silicon Saxony e.V., Германия
14.00-14.30 Гибридные МЭМС-акселерометры и гироскопы, д.т.н., профессор, С.Ф. Коновалов, МГТУ им. Н.Э. Баумана, Россия
14.30-15.00 Влияние медленно изменяющихся условий функционирования микромеханических гироскопов на динамические и точностные характеристики датчиков, И.В. Меркурьев, д.т.н., проф. НИУ «МЭИ», Россия
15.00-16.00 Фотокамеры для модулей, применяемых в жестких условиях окружающей среды, Дипл. инж. В.П. фон Хессен, Silicon Micro Sensors GmbH, Германия
16.00-16.20 Перерыв
16.20-16.45 Капсулированный микромеханический акселерометр с обратной связью, М.В. Федоров, к.т.н., ОАО «ГИРООПТИКА», Россия
16.45-17.00 (Тема выступления уточняется)
17.00-17.25 (Тема выступления уточняется) Colibrys, Швейцария
17.25-17.50 Применение на российском рынке автоматизированных систем геотехнического мониторинга, основанных на технологии МЭМС (включая беспроводные сенсорные системы), ООО «Румб», Россия
17.45 -17.55 ПОДВЕДЕНИЕ ИТОГОВ 1 ДНЯ КОНФЕРЕНЦИИ
18.00-21.00 Культурная программа. Обзорная экскурсия по городу
Среда, 26 июня 2013 г.
Секция 6: Сенсорные решения, основанные на МЭМС. Конференц-зал, 4 этаж
Председатели – Д.М. Урманов, к.т.н., РАМЭМС, Россия
Д-р Т.Тиеме, Silicon Saxony e.V., Германия
9.30-10.30 (Приглашенный доклад) Сенсорные решения для измерения радиации, давления и ускорения, Д-р В. Цэйетмайр, First Sensor AG, Германия
10.30-11.30 Проблема энергосбережения в беспроводных сенсорных системах, Д. Парси, BeanAir, Франция
11.20-11.40 Перерыв
11.40-12.30 Интерферометры Фабри-Перо нового поколения, Д-р Н. Нойман, Infratech GmbH, Германия
12.30-13.00 Магниторезистивные МЭМС-сенсоры и перспективы их развития. Технология 3D- сборки интегральных микросхем, Г.Д. Демин, ЗАО «Зеленоградский нанотехнологический центр», Россия
13.00-14.00 Обед
14.00-14.25 Исследование путей создания энергоэффективных высокочувствительных сейсмо-магниточувствительных МЭМС-датчиков, В.И. Юрченко, ОАО «НИИИП», Россия
Секция 7: Инерциальные МЭМС-системы. Конференц-зал, 4 этаж
Председатели: Д.М. Урманов, к.т.н., РАМЭМС, Россия
14.25-15.00 (Приглашенный доклад) БИНС, основанные на МЭМС, А.П. Колесников, ОАО «НИИМЭ и Микрон», Россия
15.00-16.00 Обзор группы высокоточных датчиков измерения ускорения, Д-р Т.Тиеме, Silicon Saxony e.V., Германия
16.00-16.20 Перерыв
16.20-16.45 Новая технология изготовления МЭМС устройств на основе изоляции встроенной в объем кремния, Постников А.В., ЯФ ФТИАН РАН, Россия
16.45-17.50 КРУГЛЫЙ СТОЛ «Перспективы развития рынка МЭМС в России». Конференц-зал, 4 этаж. Приглашаются все желающие участники Форума
Ведущие круглого стола:
Д.М. Урманов, к.т.н., РАМЭМС, Россия
Д-р Т.Тиеме, Silicon Saxony e.V., Германия
Общение на стендах участников Форума. Корпус АДМ, 2 этаж, 214 комната. Участие по предварительно составленному расписанию встреч
17.50-18.00 ЗАКРЫТИЕ КОНФЕРЕНЦИИ. Конференц-зал, 4 этаж
18.00-19.00 ВЕЧЕРНИЙ ПРИЕМ. БАНКЕТ. ОАО «Концерн «ЦНИИ «Электроприбор»
Рабочий язык конференции – русский. Предусмотрен последовательный перевод с английского на русский.
По всем вопросам просьба обращаться к Болдовой Олесе Игоревне, главному специалисту по развитию:
Тел: +7-4712-73-11-13
e-mail: olesya.boldova@mems-russia.ru
www.mems-russia.ru
Информация предоставлена ООО «Совтест АТЕ».
|