Главная » События » Семинары » Сборка и защита радиоэлектронных устройств. Контроль процессов и особенности выбора материалов
События
05 июня 2014
Сборка и защита радиоэлектронных устройств. Контроль процессов и особенности выбора материалов
Логотип с сайта dipaul.ru
Компания «Диполь Технологии» приглашает принять участие в бесплатном семинаре «Сборка и защита радиоэлектронных устройств. Контроль процессов и особенности выбора материалов», который пройдет в Санкт-Петербурге 5 июня 2014 года.
Семинар пройдет при поддержке сертифицированного тренера IPC. Представитель каждой компании может принести по одному изделию (либо фотографии проблемных мест на этом изделии), чтобы задать вопросы и получить консультацию по решению существующих технологических проблем.
Программа семинара:
- Технологические материалы для пайки на основе нового флюса класса ROL0. Представление новойлинейки продуктов.
- Основные требования, предъявляемые к паяльным пастам и припоям с флюсом.
- Какие характеристики паяльной пасты влияют на процесс нанесения и оплавления.
- Что необходимо знать при выборе материалов.
- Какие часто возникающие недостатки удалось устранить в новой линейке продукции.
- Чем может быть интересна новая формула флюса для российских производителей.
- Технологический процесс отмывки электронных модулей от А до Я
- Зачем нужна отмывка? Последствия некачественной отмывки.
- Обзор существующих процессов отмывки
- Классификация отмывочных жидкостей и особенности их использования.
- Особенности отмывки флюсов разной классификации
- Контроль качества отмывки
- Разбор часто возникающих дефектов и методы их устранения.
- Защитные покрытия
- Что такое защитное покрытие, и как оно работает?
- Выбор защитного покрытия: лак или компаунд?
- Классификация, особенности нанесения и отверждения.
- Решения для светотехники и оптоэлектроники.
- Управление технологическим процессом его оптимизация
- Контроль технологического процесса как важнейшая составляющая стабильности качества продукции.
- Особенности контроля процесса оплавления паяльной пасты.
- Сбор статистических данных. Зачем это нужно?
- Инструменты контроля. Реализованные возможности в продуктах KIC.
- Разбор дефектов и возникающих трудностей пайки на примерах изделий, принесенных слушателями.
Семинар пройдет в Санкт-Петербурге 5 июня 2014 года (полный день — с 9:30 до 17:30).
Место проведения — Гостиница «IBIS Санкт-Петербург Центр», Лиговский проспект, 54
Вход бесплатный, по предварительной регистрации.
Если вы хотите принять участие в семинаре, отправьте, пожалуйста, заполненную регистрационную форму по электронной почте events@dipaul.ru или свяжитесь с организаторами любым удобным для вас способом до 3 июня 2014 года включительно.
Контактные лица для регистрации:
Алена Плотицына и Филипп Филин
Тел./факс (812) 702-12-66
E-mail: events@dipaul.ru
Информация с сайта dipaul.ru.
|