Информационный портал по технологиям производства электроники
Конференция «Аддитивное производство. Методы обеспечения качества изделий аддитивного производства. Применение компьютерной томографии» - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » События » Семинары » Конференция «Аддитивное производство. Методы обеспечения качества изделий аддитивного производства. Применение компьютерной томографии»

События

17 ноября 2016

Конференция «Аддитивное производство. Методы обеспечения качества изделий аддитивного производства. Применение компьютерной томографии»

Изображение предоставлено компанией ООО «Совтест АТЕ».

Совместно с фирмой Nikon, признанным мировым лидером в сфере технологии компьютерной томографии, и Лёвенским Университетом (Бельгия), занимающимся научными исследованиями в области АП, специалисты компании ООО «Совтест АТЕ» организуют научную конференцию, посвященную обеспечению контроля качества изделий аддитивного производства.

Ключевые темы конференции:

  • Проблемы внедрения аддитивных технологий в производство;
  • Процессы аддитивного производства сложных деталей с высокой точностью и качеством (материалы для AM, конструкция принтеров и оптимизация процесса);
  • Контроль качества с помощью наблюдения за процессом в режиме реального времени, возможные производственные дефекты;
  • Микрофокусная компьютерная томография (основные сведения о микро-КТ);
  • КТ для пространственных измерений (особенности применения КТ для контроля геометрии);
  • Оценка конструктивной целостности изделий АП с помощью компьютерной томографии.

Главные спикеры конференции:

Сергей Колобов – инженер по прикладным технологиям рентгеновской компьютерной томографии Nikon Metrology (Бельгия), специалист высокого класса в области промышленной компьютерной томографии.

Michele Pavan – инженер исследовательского центра при Лёвенском Католическом Университете (KU Leuven, Бельгия), автор научных статей в области КТ. Исследовал лазерное спекание полимеров с использованием компьютерной томографии, а также совершенствование способов, которые позволяют извлекать полезную информацию о процессе и дают понимание о том, как улучшить его.

Члены оргкомитета:

Ланшин Александр Игоревич – научный руководитель, заместитель Генерального директора ЦИАМ, д.т.н.

Ножницкий Юрий Александрович – заместитель Генерального директора ЦИАМ, начальник отделения «Динамика и прочность авиационных двигателей», д.т.н.

Магеррамова Любовь Александровна – начальник сектора отделения «Динамика и прочность авиационных двигателей» ЦИАМ, д.т.н.

Дата проведения: 17 ноября 2016 года

Начало работы конференции: 10:00

Регистрация участников: с 09:00 до 10:00

Место проведения: Центральный институт авиационного моторостроения имени П.И. Баранова (ЦИАМ), г. Москва, ул. Авиамоторная, 2.

Организаторы конференции: ООО «Совтест АТЕ», Nikon

Партнеры мероприятия:

  • Центральный институт авиационного моторостроения имени П. И. Баранова (ЦИАМ им. П. И. Баранова)
  • Лёвенский Католический Университет
  • Московский авиационный институт

Информационный партнер: РИЦ «ТЕХНОСФЕРА».

Более подробная информация о мероприятии приводится по ссылке.

Информация предоставлена компанией ООО «Совтест АТЕ».




Новое на форуме

Re: Продается оборудование для SMD монтажа
Re: Паяльные пасты Российского производства
Продается линия SMD-монтажа
Продается осциллограф Agilent 54833D

Последние новости

Приобретение малых инновационных предприятий позволит значительно увеличить долю гражданской продукции «Росэлектроники»
подробнее
Тестеры полупроводниковых компонентов серий SPEA C430, SPEA C600 внесены в Государственный реестр средств измерений
подробнее
Опубликованы результаты расширенного тестирования производительности процессора Baikal-T1
подробнее
НПП «Родник» приглашает на популярный курс «Работа с САПР Altium Designer»
подробнее
Участники отраслевой научно-технической конференции обсудят перспективы развития отечественной радиоэлектроники
подробнее
Вышел новый номер научно-практического журнала Группы компаний Остек «Вектор высоких технологий»
подробнее
Компания Qualcomm выбрала Keysight Technologies для реализации контрольно-измерительных решений 5G
подробнее
© “Элинформ” 2007-2017.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства