События

Разработка и тестирование современных цифровых устройств. Технология периферийного сканирования JTAG

Логотипы и изображение с сайта ЗАО Предприятие Остек

Семинар состоится 20 мая 2009 года в офисе ЗАО Предприятие Остек по адресу: г. Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2. Начало в 10:00.

На семинаре будут рассмотрены возможности тестирования электронных изделий с использованием технологии периферийного сканирования (JTAG IEEE 1149.1 Boundary-scan Test). Данный метод позволяет производить проверку цепей и точную диагностику дефектов на платах с высокой плотностью монтажа, корпусами типа BGA и т.п. Рассматриваемые вопросы будут интересы всем, кто занимается разработкой, производством и тестированием современных цифровых устройств, построенных на базе микроконтроллеров, ПЛИС, процессоров и СБИС различного назначения.

Кроме того, одной из основных тем семинара будет освещение вопросов тестопригодной разработки изделий, а также обеспечения технологичности изделия для его производства, что немаловажно при оптимизации издержек в условиях современной экономической ситуации. Соблюдение стратегий DFM (Design for Manufacturing) и DFT (Design for Testability) на самых ранних стадиях позволит избежать лишних и ненужных операций и оптимизировать весь жизненный цикл электронных изделий, таких как: разработка, производство, тестирование, ремонт и сервисное обслуживание.

В семинаре принимают участие:

• Алексей Иванов, технический консультант, JTAG Technologies;
• Андрей Насонов, начальник отдела тестового оборудования, Предприятие Остек;
• Александр Акулин, технический директор PCB Technology.

Зарегистрироваться на участие в семинаре можно по телефонам:

(495) 788-44-44 (ЗАО Предприятие Остек, отдел электрического контроля НПРА); (812) 313-91-59 (представительство JTAG Technologies) или on-line на сайтах: www.ostec-smt.ru, www.jtag-technologies.ru.

Заявки принимаются до 16 мая 2009 года, в заявку можно включить 2 сотрудников от одной организации.

Информация предоставлена ЗАО Предприятие Остек и компанией JTAG Technologies.