События

Технологии и оборудование для автоматического электрического и оптического контроля в современном микроэлектронном производстве

З февраля 2010 года в конференц-зале ЗАО Предприятие Остек пройдет семинар «Технологии и оборудование для автоматического электрического и оптического контроля в современном микроэлектронном производстве».

Семинар состоит из двух частей. В первой части будут представлены современные технологии электрического тестирования, применяемые при производстве микросхем и дискретных полупроводниковых компонентов; рассмотрены вопросы автоматизации процесса тестирования специфических компонентов, таких как МЭМС, изделия оптоэлектроники, заказные интегральные микросхемы, компоненты РЧИД.

Во второй части речь пойдет о передовых методах и технологиях автоматической оптической инспекции полупроводниковых пластин на различных технологических этапах, предшествующих корпусированию. Будут рассмотрены типы критически важных дефектов, влияющих на надежность работы изделий, и методы их выявления.

Программа семинара:

9:00 Регистрация участников, работа в демонстрационных залах.

10:00 Часть 1. Современные технологии и оборудование для электрического контроля.

12:30 Кофе-брейк, работа в демонстрационных залах.

13:15 Часть 2. Передовые технологии автоматической оптической инспекции полупроводниковых пластин в микроэлектронном производстве.

15:45 Ответы на вопросы.

16:00 Фуршет.

Участие в семинаре бесплатное при условии предварительной регистрации.

Место проведения: ЗАО Предприятие Остек. Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2. (схема проезда).

Более подробную информацию Вы можете получить у специалистов Направления производства электронных компонентов по телефону: (495) 788-44-44.

Информация с сайта www.ostec-micro.ru.