События

Измерительные технологии в оборонной и аэрокосмической промышленности

Фото с сайта dipaul.ru

Компания Agilent Technologies приглашает вас принять участие в ежегодном Симпозиуме «Тестирование в оборонной и аэрокосмической промышленности», который пройдет в Санкт-Петербурге 01 июня и в Москве 03 июня 2010 года. Вы получите уникальную возможность узнать, как с помощью решений компании Agilent можно решать самые сложные задачи, возникающие при конструировании и тестировании современных электронных систем. Доклады, представленные на Симпозиуме, будут посвящены разработке контрольно-измерительных систем для аэрокосмических и оборонных приложений, а также тестированию в области телекоммуникаций, спутниковой связи, радиолокационной и антенной техники.

В ходе Симпозиума специалисты Agilent обсудят теорию измерений, проблемы, возникающие при тестировании, а также познакомят вас с новейшими достижениями в данной сфере. В течение всего дня Вы сможете общаться с группой экспертов-разработчиков, которые с удовольствием ответят на ваши вопросы и продемонстрируют новейшие продукты и решения.

К участию в Симпозиуме приглашаются инженеры и технические руководители, отвечающие за разработку, тестирование и поддержку военных коммуникационных систем и оборудования – все, кого интересуют пути решения проблем, возникающих при разработке современных электронных систем. Пожалуйста, направьте это приглашение своим коллегам, которые, по Вашему мнению, могут заинтересоваться этим уникальным мероприятием.

Для того, чтобы принять участие в симпозиуме, необходимо заполнить и отправить по факсу или электронной почте регистрационную форму.

Краткое содержание докладов

1. Оптимизация производительности СВЧ-измерений

Использование новейших измерительных СВЧ-приборов Agilent с аппаратным и программным запуском позволяет увеличить пропускную способность систем тестирования на два порядка за счет большей универсальности, точности и скорости измерений.

В докладе сравнивается время тестирования СВЧ-модулей РЛС с помощью более ранних систем на основе анализаторов цепей и сигналов, и время аналогичного тестирования, выполненного с помощью приборов последнего поколения. В докладе уделяется внимание тому, какое влияние на пропускную способность систем тестирования оказывает применение программного или аппаратного запуска, одно- или многопоточной программной обработки, а также используемой методики калибровки.

2. Расширенное измерение характеристик активных компонентов с помощью нелинейного векторного анализатора цепей и Х-параметров

Доклад посвящен измерениям с помощью нелинейного векторного анализатора цепей (NVNA), позволяющего разработчикам электронной аппаратуры точно исследовать и моделировать характеристики нелинейных устройств. Аналогично тому, как S-параметры давно и успешно применяются для описания линейных устройств, с относительно недавнего времени Х-параметры используются для моделирования нелинейных эффектов в активных устройствах. Презентация рассказывает от нелинейных измерениях, Х-параметрах и преимуществах NVNA, включая более точное снятие характеристик нелинейных цепей, что позволяет сократить время разработки и количество создаваемых прототипов, а также сократить время вывода нового изделия на рынок.

3. Тестирование современных импульсных РЛС с помощью профессиональных приборов и САПР

Тестирование современных импульсных РЛС сопряжено с рядом проблем. Чтобы создать высокоэффективную РЛС, необходимо решить множество задач, связанных с применением сложных видов модуляции и многочисленных когерентных излучателей в широком диапазоне частот. В докладе описываются различные измерения при тестировании импульсных РЛС, начиная с измерения интервала следования импульсов (RPI) и заканчивая измерениями когерентных многоканальных систем со сжатием импульсов. Будет рассказано о возможностях и преимуществах современных анализаторов спектра (сигналов) и осциллографов Agilent при решении подобных задач.

4. Моделирование и тестирование радиолокационных систем

Современные радиолокационные системы работают в радиоэлектронной обстановке, характеризующейся многочисленными помехами, и поэтому вынуждены использовать все более сложные методы цифровой обработки сигналов. В таких сложных системах непосредственный анализ сигнала не работает. Но даже при использовании моделирования, большинство современных средств не способны построить полностью достоверную модель, описывающую все характеристики исследуемого объекта. Презентация описывает методику проектирования систем с помощью САПР SystemVue. Примеры покажут, как с помощью пакета инструментальных средств SystemVue можно быстро спроектировать импульсно-доплеровскую РЛС с цифровой антенной решеткой с адаптивным формированием диаграммы направленности. Для сокращения сроков разработки в состав САПР SystemVue включены инструментальные средства тестирования, позволяющие исследовать характеристики вновь создаваемых систем.

5. Когерентность и стабильность источников сигналов при тестировании систем с разнесенным приемом и многоканальных систем

При измерении характеристик приемной части РЛС, пеленгатора или систем с разнесенным приемом требуются специальные средства моделирования сигналов, точно воспроизводящие рабочую радиоэлектронную обстановку. Презентация описывает средства формирования испытательных сигналов для различных современных беспроводных систем. Мы расскажем об использовании для этой цели генераторов сигналов произвольной формы, а также о том, как обеспечить синхронный когерентный прием этих сигналов на различных входах внутри системы. Мы разберемся, каким образом точность и чистота спектра источников сигнала влияет на производительность системы тестирования.

Информация с сайта dipaul.ru.