События

Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетании с другими способами электрического контроля

15 сентября 2010 года ЗАО Предприятие Остек совместно с компанией JTAG Technologies проведёт однодневный семинар «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетании с другими способами электрического контроля».

Основное тематическое направление семинара – показать возможности и преимущества различных методов электрического контроля и их комбинаций в процессе разработки и производства электроники.

Будут рассмотрены принципы работы основных методов электрического контроля – внутрисхемное и функциональное тестирование как с использованием периферийного сканирования JTAG, так и совместно с другими способами электрического контроля.

Опыт работы в области тестирования на российском рынке показал, что многие пользователи тестового оборудования хотели бы совмещать структурное тестирование, призванное локализовывать производственные дефекты, с функциональной проверкой изделий. Одна из задач семинара – показать, какие из функциональных проверок и операций могут быть реализованы на базе автоматических средств тестирования. Также мы расскажем, как производится интеграция средств структурного тестирования (JTAG, Flying Probe, ICT) и средств функциональной проверки.

Будут продемонстрированы новые возможности систем JTAG-теста в области симуляции функциональной проверки печатных узлов (JTAG Functional Test) и его сравнение с «классическим» структурным JTAG-тестом.

Семинар пройдет 15 сентября 2010 года в офисе Предприятия Остек по адресу: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Начало семинара в 10 часов.

Зарегистрироваться на участие можно по телефонам:

(495) 788-44-44 – ЗАО Предприятие Остек, отдел электрического контроля НПРА;

(812) 313-91-59 – представительство JTAG Technologies;

На сайте ЗАО Предприятие Остек, заполнив заявку в конце страницы.

Информация с сайта ostec-group.ru.