Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Электрическое тестирование: практические аспекты, выбор оборудования, технология JTAG-тестирования - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Электрическое тестирование: практические аспекты, выбор оборудования, технология JTAG-тестирования - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » События » Семинары » Электрическое тестирование: практические аспекты, выбор оборудования, технология JTAG-тестирования

События

17 мая 2011

Электрическое тестирование: практические аспекты, выбор оборудования, технология JTAG-тестирования

Фото с сайта ostec-group.ru

17 мая 2011 года ЗАО Предприятие Остек совместно с компанией JTAG Technologies проводит семинар «Электрическое тестирование и технология JTAG. Практические аспекты проектирования, выбор оборудования».

Диагностика современных цифровых изделий с использованием стандартных измерительных приборов уже давно потеряла требуемую эффективность, приводя к потере времени на поиск и локализацию дефектов, что существенно повышает стоимость ремонтных операций и затягивает сроки поставок готовой продукции. Современные средства автоматизированного контроля позволяют сократить время на поиск и локализацию дефектов, но при этом необходимо искать новые подходы к проектированию изделий. Все чаще на первый план проектирования выходит оценка тестового покрытие. Такой подход позволяет контролировать максимальное количество цепей и компонентов без необходимости «ручного» создания специализированных тестов функционального контроля.

Еще в начале 90-х годов был разработан метод периферийного (граничного) сканирования для изделий на базе ПЛИС, процессоров и микроконтроллеров. Автоматизированные средства генерации тестовых последовательностей для периферийного сканирования совершенствуются и в настоящее время. Сегодня всю основную работу «машина» делает сама: не нужно открывать учебники и изучать стандарты периферийного сканирования, работу JTAG-интерфейса, вручную писать тестовые программы.

Во время семинара вы сможете:

  • ознакомиться с комплексным подходом к тестированию;
  • узнать об особенностях проектирования тестопригодных изделий на примерах, взятых из реального отечественного опыта;
  • получить информацию о существующих методах электрического контроля, позволяющих тестировать не только цифровые, но и аналоговые изделия;
  • получить рекомендации по выбору оборудования в зависимости от выполняемых задач (модификации, степень автоматизации);
  • посетить демонстрационный зал Остека, увидеть самое современное тестовое оборудование в работе;
  • задать вопросы специалистам Остека и компании JTAG Technologies.

Участие в семинаре бесплатное.

Зарегистрируйтесь на участие любым из трех способов:

  • заполнив заявку по этой ссылке внизу страницы
  • по электронной почте info@ostec-group.ru
  • по телефону (495) 788-44-44, контактное лицо Шоренкова Ольга

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2

Информация с сайта ostec-group.ru.




Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства