Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » События » Семинары » Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления

События

07 апреля 2011

Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления

Логотип предоставлен Центром Современной Электроники

Центр Современной Электроники приглашает вас на семинар «Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления», рассчитанный на опытных разработчиков, руководителей направлений и главных конструкторов предприятий, работающих в авиационной, космической, энергетической отраслях и в сфере ВПК. Семинар пройдет 7 апреля 2011 г. в Санкт-Петербурге в БЦ Нептун.

Авторы и докладчики семинара:

  • Андрей Николаевич Терехов, профессор, директор НИИ информационных технологий СПбГУ, генеральный директор ЗАО «Ланит-Терком»;
  • Борис Николаевич Кривошеин, к.т.н., директор департамента телекоммуникаций и встроенных систем ЗАО «Ланит-Терком»;
  • Наталья Георгиевна Коломенская, к.э.н., заместитель генерального директора по научной работе РНИИ «Электронстандарт».

Основные вопросы семинара:

  • вероятностное поведение многоканальных систем управления;
  • расчет необходимого уровня резервирования, архитектуры систем с двойным и тройным резервированием;
  • выбор/разработка операционной системы жесткого реального времени;
  • унификация аппаратных и программных модулей, используемых в отказоустойчивых системах управления;
  • выбор микропроцессорного ядра для отказоустойчивых систем управления;
  • тестирования компонентов, управление номенклатурой электронных компонентов и модулей;
  • информационное сопровождение компонентов и модулей в течение жизненного цикла системы управления.

Познакомиться с программой семинара и оставить заявку на участие можно на сайте Центра Современной Электроники.

Для повышения эффективности семинара докладчики рекомендуют освежить знания основ теории надежности по следующей литературе:

Половко А.М., Гуров С.В. -- Основы теории надежности. Практикум. -- СПб, 2006.

Рекомендованные для подготовки к семинару разделы:

1.1 Методы расчета показателей надежности нерезервированных невосстанавливаемых систем
2.1 Методы расчета показателей надежности резервированных невосстанавливаемых систем
2.1.1 Общее резервирование с постоянно включенным резервом
2.1.2 Общее резервирование замещением
2.1.3 Раздельное резервирование
2.1.4 Резервирование с дробной кратностью
2.1.5 Скользящее резервирование
3. Расчет показателей надежности нерезервированных восстанавливаемых систем
3.1 Сведенья из теории
4.1 Методы расчета надежности систем при экспоненциальных законах распределния отказов и восстановлений.

Книга доступна на соответствующих тематических ресурсах интернет.

Информация предоставлена Центром Современной Электроники.




Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства