Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами тестирования - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами тестирования - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » События » Семинары » Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами тестирования

События

15 сентября 2011

Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами тестирования

Фото и логотип с сайта www.ostec-group.ru

15 сентября 2011 года ЗАО Предприятие Остек совместно с JTAG Technologies проводит семинар «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами тестирования».

Периферийное сканирование – метод структурного тестирования собранных цифровых плат, который наиболее близок к функциональному контролю. Поэтому во всем мире эти два метода часто совмещают в рамках одной рабочей станции. Это позволяет диагностировать производственные дефекты на самых ранних этапах настройки и проверки изделия, программировать ПЛИС и ПЗУ, проводить функциональные тесты с использованием единой оснастки, компьютера и силами одного оператора.

Небольшие размеры контроллеров периферийного сканирования делают JTAG-тест одним из самых гибких способов электрического контроля, позволяя тестировать единичные опытные изделия и крупносерийную продукцию в любом из подразделений предприятия. Более того, средства преобразования JTAG-сигналов в любой телекоммуникационный протокол делают возможным тестирование удаленных объектов на любых расстояниях.

На семинаре будут рассмотрены следующие темы:

  • Основные принципы тестирования плат при помощи JTAG
  • Условия, необходимые для применения метода периферийного сканирования. Критические ошибки разработчиков при проектировании, ограничивающие применение JTAG-тест.
  • ЧТО можно протестировать с использованием JTAG?
  • До какой степени JTAG-тест может заменить собой функциональный контроль?
  • В каких случаях можно или нужно производить интеграцию JTAG-теста в другие методы контроля (функциональный, внутрисхемный)

Участие в семинаре бесплатное.

Семинар будет проходить с 9:00 до 17:00 по адресу: Москва, ул. Молдавская д. 5 стр. 2.

Зарегистрируйтесь на участие любым из трех способов:

Информация с сайта www.ostec-group.ru.




Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства