Информационный портал по технологиям производства электроники
Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test) - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Авторизация


Главная » Техническая информация » Стандарты » Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test)
06 марта 2009

Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test)

Статья предоставлена компанией JTAG Technologies

Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test) разрабатывались специально для решения проблем электрического тестирования изделий сложной цифровой техники, как альтернатива внутрисхемному тестированию при помощи «поля контактов» и установок с «летающими пробниками».

В целом, любой стандарт группы IEEE 1149.x подразумевает наличие в микросхеме дополнительной тестовой логики, которая позволяет отключать ее основную функцию и управлять ее выводами при помощи внешнего оборудования. Для тестирования платы достаточно, чтобы одна или несколько ИС соответствовали стандарту. В основном это процессоры, контроллеры, ПЛИС и СБИС различного назначения. Такие элементы цифровой элементной базы, как ОЗУ, ПЗУ и простая логика обычно не содержат дополнительных регистров IEEE 1149.x, но при этом также тестируются при наличии на плате других элементов, соответствующих стандарту.

1. Стандарт IEEE 1149.1

Стандарт IEEE 1149.1 является самым первым и основным, и был утвержден в первой редакции в 1990 году. Он применен как встроенное средство тестирования на тысячах видов микросхем и обеспечивает тестирование, диагностику и программирование бесчисленного количества электронных изделий (плат) во всем мире, постоянно расширяя свою область применения. Данная спецификация определяет порт тестового доступа (TAP, Test Access Port или JTAG-интерфейс), последовательную машину состояний, называемую TAP-контроллером, регистр команд и, кроме того, набор регистров данных. Данная тестовая логика требуется для осуществления тестирования.

Со спецификацией периферийного сканирования JTAG связан также язык описания тестовой логики внутри ИМС (Boundary Scan Description Language, BSDL). Это описание оформляется в виде BSDL-файла, который производитель микросхемы обычно выкладывает в свободный доступ на своем сайте.

2. Стандарт IEEE 1149.4

Стандарт IEEE 1149.4 был утвержден в 2000 году с целью обеспечить решение для проведения аналоговых измерений на плате, базирующееся на кристалле микросхемы. 1149.4 добавляет к стандартному TAP-порту два дополнительных вывода: AT1 и AT2 – аналоговые выводы для стимуляции воздействий и проведения измерений. При помощи данной обвязки можно измерить величины сопротивлений, конденсаторов, напряжений в различных точках платы, на которую установлена микросхема(ы) с поддержкой 1149.4.

К сожалению, данный стандарт до сих пор не получил такого широкого и повсеместного распространения, как IEEE 1149.1. Причина заключается в том, что BSDL для него пока находится в стадии разработки, я BSDL-файл нужен для автоматической генерации тестов для всей платы.

3. Стандарт IEEE 1149.6

В случаях, когда цепь становится частью LVDS или используется связь по переменному току, 1149.1 становится неполноценным. Например, ошибки присутствующие в дифференциальных парах могут не определяться, а цепи, связанные по переменному току могут давать ложные результаты тестирования. По этой причине был разработан стандарт IEEE 1149.6, часто называемый также AC-EXTEST. При этом должны использоваться микросхемы, соответствующие 1149.6, обладающие возможностью генерировать импульсы наряду с обычными операциями JTAG, а также детектировать фронты сигналов на приемном конце. Таким образом, все неисправности, которые могут присутствовать, скажем, на линии LVDS могут быть теперь детектированы как отклик на воздействующий импульс.

Микросхемы, поддерживающие стандарт IEEE 1149.6 полностью соответствуют IEEE 1149.1.

Дополнительную информацию по стандартам группы IEEE 1149.x можно получить на сайте института IEEE www.ieee.org.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Re: В продаже полуавтомат EXPERT
Re: Сколько раз можно перепаивать BGA
Продам Quadra TWS Basic
Внутрисхемное тестирование на установке SPEA 4060 в А-КОНТРАКТ!

Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2018.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства