Информационный портал по технологиям производства электроники
Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test) - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Техническая информация » Стандарты » Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test)
06 марта 2009

Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test)

Статья предоставлена компанией JTAG Technologies

Стандарты группы IEEE 1149.x (JTAG Boundary-scan Test) разрабатывались специально для решения проблем электрического тестирования изделий сложной цифровой техники, как альтернатива внутрисхемному тестированию при помощи «поля контактов» и установок с «летающими пробниками».

В целом, любой стандарт группы IEEE 1149.x подразумевает наличие в микросхеме дополнительной тестовой логики, которая позволяет отключать ее основную функцию и управлять ее выводами при помощи внешнего оборудования. Для тестирования платы достаточно, чтобы одна или несколько ИС соответствовали стандарту. В основном это процессоры, контроллеры, ПЛИС и СБИС различного назначения. Такие элементы цифровой элементной базы, как ОЗУ, ПЗУ и простая логика обычно не содержат дополнительных регистров IEEE 1149.x, но при этом также тестируются при наличии на плате других элементов, соответствующих стандарту.

1. Стандарт IEEE 1149.1

Стандарт IEEE 1149.1 является самым первым и основным, и был утвержден в первой редакции в 1990 году. Он применен как встроенное средство тестирования на тысячах видов микросхем и обеспечивает тестирование, диагностику и программирование бесчисленного количества электронных изделий (плат) во всем мире, постоянно расширяя свою область применения. Данная спецификация определяет порт тестового доступа (TAP, Test Access Port или JTAG-интерфейс), последовательную машину состояний, называемую TAP-контроллером, регистр команд и, кроме того, набор регистров данных. Данная тестовая логика требуется для осуществления тестирования.

Со спецификацией периферийного сканирования JTAG связан также язык описания тестовой логики внутри ИМС (Boundary Scan Description Language, BSDL). Это описание оформляется в виде BSDL-файла, который производитель микросхемы обычно выкладывает в свободный доступ на своем сайте.

2. Стандарт IEEE 1149.4

Стандарт IEEE 1149.4 был утвержден в 2000 году с целью обеспечить решение для проведения аналоговых измерений на плате, базирующееся на кристалле микросхемы. 1149.4 добавляет к стандартному TAP-порту два дополнительных вывода: AT1 и AT2 – аналоговые выводы для стимуляции воздействий и проведения измерений. При помощи данной обвязки можно измерить величины сопротивлений, конденсаторов, напряжений в различных точках платы, на которую установлена микросхема(ы) с поддержкой 1149.4.

К сожалению, данный стандарт до сих пор не получил такого широкого и повсеместного распространения, как IEEE 1149.1. Причина заключается в том, что BSDL для него пока находится в стадии разработки, я BSDL-файл нужен для автоматической генерации тестов для всей платы.

3. Стандарт IEEE 1149.6

В случаях, когда цепь становится частью LVDS или используется связь по переменному току, 1149.1 становится неполноценным. Например, ошибки присутствующие в дифференциальных парах могут не определяться, а цепи, связанные по переменному току могут давать ложные результаты тестирования. По этой причине был разработан стандарт IEEE 1149.6, часто называемый также AC-EXTEST. При этом должны использоваться микросхемы, соответствующие 1149.6, обладающие возможностью генерировать импульсы наряду с обычными операциями JTAG, а также детектировать фронты сигналов на приемном конце. Таким образом, все неисправности, которые могут присутствовать, скажем, на линии LVDS могут быть теперь детектированы как отклик на воздействующий импульс.

Микросхемы, поддерживающие стандарт IEEE 1149.6 полностью соответствуют IEEE 1149.1.

Дополнительную информацию по стандартам группы IEEE 1149.x можно получить на сайте института IEEE www.ieee.org.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Повышение квалификации
Автоматизация расчетов надежности
Продает ли кто старый принтер MOTOPRINT на запчасти?
Прикольные фотки

Последние новости

Остек-Электро приглашает на семинар по новинкам контрольно-измерительного оборудования AnaPico
подробнее
Микроэлектроника для IoT и 5G
подробнее
«Ангстрем» подвел итоги участия в выставке ChipExpo 2017
подробнее
Модуль сбора данных SAM40
подробнее
Rohde&Schwarz приглашает на выставку RADEL – 2017 и семинар «Решения компании Rohde&Schwarz для измерений в радиоэлектронике и тестирования в соответствии с требованиями электромагнитной совместимости (ЭМС)»
подробнее
Остек-Интегра приглашает на семинар «Современные технологические материалы для участка сборки печатных узлов и РЭА» на выставке РАДЭЛ 2017
подробнее
Итоги Премии «Живая электроника России-2017»
подробнее
© “Элинформ” 2007-2017.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства