Новости компаний

Cеминар «Современные методы измерений параметров материалов и компонентов»

Изображение с сайта dipaul.ru

Компании Agilent Technologies и НПФ «Диполь» приглашают на семинар «Современные методы измерений параметров материалов и компонентов», который состоится в Москве 4 марта и Санкт-Петербурге 6 марта 2014 года.

Формат семинара и его цель:

Cеминар будет посвящен измерениям параметров материалов в миллиметровом и терагерцовом диапазоне с помощью измерительного комплекса на базе высокопроизводительного анализатора цепей серии PNA Agilent Technologies, измерениям электрических характеристик в нанодиапазоне, а также тестированию новейших материалов на основе графена. Также в ходе семинара будет рассмотрена тема разработки устройств на базе САПР Agilent Technologies.

Программа семинара:

• Новейшие решения для тестирования параметров материалов в миллиметровом и терагерцовом диапазоне. Точные измерения электромагнитных характеристик таких веществ, как материалы на основе технологий Стелс, диалектрических подложек, пищевых продуктов и биологического топлива в СВЧ и миллиметровом диапазоне частот обеспечивают инженеров критически важной информацией, необходимой для разработки, моделирования, исследования, производства и контроля качества материалов и схем. В этом докладе будут рассмотрены различные методы, используемые для измерения диэлектрических свойств твердых и жидких веществ, а также критерии, которые необходимо принимать во внимание при выборе метода измерений. Основное внимание будет уделено методикам, которые используются для измерения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь твердых и жидких диэлектриков в диапазоне частот от 100 МГц до 1,1 ТГц.
• Измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Режим микроволнового сканирования (SMM) — единственный метод электрической характеризации на основе атомно-силовой микроскопии, позволяющий получать численные значения ёмкости, а также комплексного импеданса, проводить измерения плотности примесей, одновременно получая топографическое отображение. Начиная с таких применений, как исследование полупроводников, керамики или полимеров, и заканчивая исследованием биологических образцов, характеризацией граничных свойств и изучением молекулярных вибрационных мод — эта часть семинара позволит найти применение SMM в ваших исследованиях. Также будет рассмотрен пример моделирования SMM в САПР 3D-электромагнитного моделирования Agilent EMPro.
• Электрическая характеризация наноустройств/GaN/SIC III/IV (Графеновые нанотрубки/SET) и специализированная платформа Agilent IC-CAP для моделирования полупроводников.
• Роль компании Agilent в исследованиях новых материалов. Методы определения характеристик графена и устройств на основе графена. В последнее время в мире наблюдается активизация исследований нового материала — графена, что свидетельствует об усилении борьбы за право быть лидером потенциальной промышленной революции. В докладе будут рассмотрены методы определения характеристик и измерения параметров новых материалов, в том числе графена.

На семинаре будут представлены практические примеры применения измерительных систем для тестирования параметров материалов, принципы их работы и возможности. Вести мероприятие будут специалисты Agilent Technologies.

Для участия в семинаре необходимо заполнить регистрационную форму и выслать ее компании «Диполь» по факсу (495) 797–39–02 или электронной почте tmo_russia@agilent.com до 28 февраля 2014.

После отправки прилагаемой регистрационной формы от компании «Диполь» будет направлено подтверждение регистрации, в котором будут указаны точное время и место проведения семинара. Если в течение пяти рабочих дней с момента отправки заявки подтверждение не поступит, компания «Диполь» просит связаться с ее специалистами по телефону +7 (495) 797–39–28.

Также зарегистрироваться можно на сайте www.agilent.ru.

Контактное лицо:

Ольга Бардашова

Российское представительство Agilent Technologies

тел.: (495) 797–39–28

Дополнительные материалы

Регистрационная форма (33 кБ).

Информация с сайта dipaul.ru.