Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
XJTAG выходит на рынок ремонта электроники с принципиально новой системой разработки тестов периферийного сканирования - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
XJTAG выходит на рынок ремонта электроники с принципиально новой системой разработки тестов периферийного сканирования - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости САПР » XJTAG выходит на рынок ремонта электроники с принципиально новой системой разработки тестов периферийного сканирования

Новости САПР

03 марта 2014

XJTAG выходит на рынок ремонта электроники с принципиально новой системой разработки тестов периферийного сканирования

Изображение с сайта www.xjtag.com

Компания XJTAG выпустила версию 3.2 своей одноименной ведущей системы разработки тестов периферийного сканирования. Принципиально новым в новом выпуске стало расширение концепции периферийного сканирования, которая теперь позволяет инженерам проектировать тесты плат даже при отсутствии списка цепей (netlist). Версия 3.2 позволяет создавать в графическом приложении XJDeveloper проекты тестирования плат без списка цепей при помощи только файлов BDSL для устройств, поддерживающих JTAG. Соединения между этими устройствами извлекаются из работоспособной платы и автоматически добавляются в проект.

Данная особенность особенно полезна инженерам по ремонту, которым часто приходится работать с платами не имея доступа к списку цепей этих плат, что ранее приводило к невозможности применения периферийного сканирования до тех пор, пока заказчик не предоставлял необходимую информацию, на поиск которой уходило время, что затягивало процедуру ремонта.

Возможность работы без списка цепей также позволяет инженерам добавлять в проект устройства, не поддерживающие JTAG, путем простого описания, как эти устройства подключены к JTAG-устройствам платы.  После этого модули могут быть протестированы при помощи файлов библиотеки XJEase, что расширяет тестовое покрытие и экономит время и усилия, которые ранее требовались на ручное тестирование этих устройств при помощи пробников.

В состав XJDeveloper версии 3.2 также включен графический отладчик, предназначенный для применения при написания XJEase-программы. Такие стандартные инструменты отладки, как задание точек останова (breakpoints) и окно отображения и изменения значений переменных (watch window), поможет повысить эффективность разработки алгоритмов тестирования.

XJTAG 3.2 доступен на сайте www.xjtag.com, там же находится бесплатная 30-дневная полнофункциональная пробная версия.

По материалам www.xjtag.com.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства