Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Установка внутрисхемного тестирования от компании CheckSum претендует заменить тестеры с летающими пробниками - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Установка внутрисхемного тестирования от компании CheckSum претендует заменить тестеры с летающими пробниками - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Установка внутрисхемного тестирования от компании CheckSum претендует заменить тестеры с летающими пробниками

Новое оборудование и материалы

01 апреля 2014

Установка внутрисхемного тестирования от компании CheckSum претендует заменить тестеры с летающими пробниками

Изображение с сайта www.smtnet.com

Компания CheckSum на мероприятии IPC APEX EXPO представила новую установку внутрисхемного тестирования с «ложем гвоздей» — Tilt 12KN. Новая конструкция «ложа гвоздей», разработанная компанией Everett Charles Technologies, сочетает возможность выполнения тестов с широким покрытием возможных неисправностей и низкую стоимость. Система предназначена заменить тестеры с летающими пробниками на производствах от мелко- до среднесерийного с широкой номенклатурой выпускаемых изделий, в условиях которых высокая стоимость изготовления оснастки является критической. «Ложе из гвоздей», выполненное по технологии Tilt®, в которой применяются «щупы с наклоном» (tilt-pin)  и программное обеспечение, изначально разработанное для тестирования несмонтированных печатных плат, позволяет обеспечивать контакт к площадкам диаметром 0,38 мм, расположенным на расстоянии до 0,6 мм. В новом «ложе из гвоздей» не применяются провода, «ложа» обладают прочной конструкцией и ремонтопригодны, просты в хранении, допускают повторное применение. Сверхострые щупы обеспечивают высокие характеристики контакта.

Системы Tilt 12KN позволяют выполнять внутрисхемное и функциональное тестирование, конструкция системы обеспечивает легкую замену оснастки. В системе Tilt 12KN реализованы подсистемы периферийного сканирования и программирования микросхем. Также присутствует возможность выполнения функционального тестирования с подачей питания на тестируемое устройство. Производительность системы Tilt 12KN позволяет ей соперничать с десятью тестерами с летающими пробниками, работающими одновременно.

По материалам www.smtnet.com.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства