Новое оборудование и материалы

Нанофокусная система рентгеновского контроля от компании Nikon

Изображение с сайта www.globalsmt.net

Новинка от компании Nikon Metrology — высокопрецизионная система рентгеновского контроля XT V 160 NF с детектором плоскопанельного типа, которая позволяет осуществлять захват изображений и анализ дефектов полупроводниковых пластин следующего поколения, микросхем и электронных сборок на основе печатных плат.

Нанофокусный источник рентгеновского излучения NanoFocus собственной разработки компании, плоскопанельный детектор на 3 Мп и высокоточный манипулятор обеспечивают высокое качество исследований и позволяют различать детали размером от 0,1 мкм. Детектор способен вращаться на 360° и позволяет осуществлять захват изображений под углом до 60° к центру детекторной панели.

Исследовательский стол 580 × 580 мм позволяет исследовать крупногабаритные печатные узлы.

Установка работает под управлением программного обеспечения Inspect-X 4, созданного с прицелом на удобство пользования и производительность.

По материалам www.globalsmt.net со ссылкой на www.nikonmetrology.com.