Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Платформа оптического контроля и измерений Eagle следующего поколения — от компании Camtek - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Платформа оптического контроля и измерений Eagle следующего поколения — от компании Camtek - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Платформа оптического контроля и измерений Eagle следующего поколения — от компании Camtek

Новое оборудование и материалы

12 августа 2014

Платформа оптического контроля и измерений Eagle следующего поколения — от компании Camtek

Изображения с сайта www.ostec-group.ru

Компания Camtek представила платформу оптического контроля и измерений следующего поколения. Линейка оборудования Eagle была создана для поддержки быстрорастущего рынка высокоинтегрированных полупроводниковых систем. Она использует новейшие технологии в области программного и аппаратного обеспечения для двухмерного и трехмерного контроля и измерений в рамках единой платформы.

Реми Лэнгер, вице-президент и глава отделения полупроводниковых технологий компании Camtech, заявил: «Новая линейка оборудования усилит наши позиции на рынке полупроводниковых систем благодаря накопленным и используемым знаниям и опыту в области контроля качества столбиковых контактных выводов (бампов) и проведения сопутствующих измерений. На рынке высокоинтегрированных систем применяется большое количество разновидностей бампов, которые характеризуются широким разнообразием форм и структур. Мы располагаем уникальными возможностями контроля качества бампов размерами до 2 мкм и их измерения, которые позволят нашим клиентам занимать лидирующие позиции на этом стремительно развивающемся рынке. Мы уже получили предзаказы на оборудование данной линейки от ведущих производителей полупроводниковых систем, что говорит об уверенности клиентов в том, что наши технологии позволят обеспечить быстрый, точный и непревзойденный двухмерный и трехмерный контроль полупроводниковых систем с бампами».

На данный момент линейка представлена двумя моделями: Eagle-I и Eagle-AP.

Основные особенности систем линейки Eagle:

  • обеспечивают быстрый поиск дефектов на пластинах различных размеров как с рамками, так и без них;
  • позволяют получить трехмерное изображение рельефа;
  • являются незаменимыми при контроле качества КМОП-матриц и МЭМС;
  • позволяют определять высоту и копланарность широкого спектра столбиковых контактных выводов размерами до 2 мкм;
  • комбинированный двухмерный и трехмерный контроль высокоинтегрированных полупроводниковых систем для массового производства (система Eagle-AP).

Информация с сайта www.ostec-group.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства