Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Новая опция локализации высокоомных перемычек на внутренних слоях МПП в тестовых системах с подвижными пробниками компании Microcraft - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Новая опция локализации высокоомных перемычек на внутренних слоях МПП в тестовых системах с подвижными пробниками компании Microcraft - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Новая опция локализации высокоомных перемычек на внутренних слоях МПП в тестовых системах с подвижными пробниками компании Microcraft

Новое оборудование и материалы

23 октября 2014

Новая опция локализации высокоомных перемычек на внутренних слоях МПП в тестовых системах с подвижными пробниками компании Microcraft

Изображения с сайта www.sovtest.ru

Тестовые системы с подвижными пробниками японской компании Microcraft предназначены для электроконтроля несмонтированных ПП/МПП, LTCC, корпусов микросхем и ГИС. Основным отличием тестовых систем данного производителя является наличие встроенного прецизионного микроомного измерителя (контроль металлизации переходных отверстий и отдельных печатных проводников).

Таким образом, все тестеры фирмы Microcraft выполняют полный спектр контроля — обрывы, КЗ, изоляция и нарушение металлизации для входного и выходного контроля несмонтированных ПП (LTCC, корпусов микросхем, МПП и ГИС). Несмотря на это, специалисты Microcraft постоянно стремятся улучшить и расширить возможности тестовых систем. Так, в дополнение к основным методам проверки ПП/МПП был разработан и успешно интегрирован в тестовую систему новый измерительный модуль MBU, с помощью которого становится возможным локализовать высокоомные перемычки (это сверхтонкие перемычки, сопротивление которых находится в диапазоне нескольких ГОм и которые образуются на внутренних слоях сверхплотных МПП).

Для обнаружения такого дефекта требуется выполнять измерения в диапазоне до 10 ГОм. При этом на современных сложных ПП/МПП (с высокой плотностью монтажа и мелким шагом между площадками) нельзя применять высокое напряжение, так как оно может изменить электрические свойства изделия (или даже повредить его). По этой причине локализацию высокоомных перемычек необходимо производить на низком напряжении. Ранее данная опция была доступна только с использованием внешнего измерительного прибора Agilent 4339B (управление через GBIP интерфейс). Такой метод требовал дополнительных подключений внешних интерфейсов и модулей, а на тестирование изделия затрачивалось много времени из-за необходимости задержек между измерениями.

Использование встроенного прецизионного измерителя позволяет в 3—4 раза сократить время тестирования ПП/МПП, повысить стабильность измерений и избавиться от нагромождений из кабельных коммутационных соединений. Опция доступна для всех систем фирмы Microcraft серии E4 и F2.

 Информация с сайта www.sovtest.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства