Новое оборудование и материалы

Новая опция тестирования интенсивности битовых ошибок в системах с шинами PCI Express — от компании GOEPEL electronics

Изображение с сайта www.globalsmt.net

Компания GOEPEL electronics выпустила новую опцию тестирования интенсивности битовых ошибок в системах с высокоскоростными шинами, совместимыми со стандартом PCI Express. Высокоавтоматизированное решение позволяет применять встроенные инстументы ПЛИС (FPGA Embedded Instruments) в виде специальных программных ядер для тестирования и проверки правильности проектного решения интерфейсов PCI Express x1/x4/x8/x16 по стандартам PCIe 1.0/2.0/3.0. В опции реализована возможность графической оценки результата посредством построения глазковой диаграммы. Необходимые параметры проверки настраиваются в интерактивном режиме и действуют немедленно без необходимости перекомпиляции IP-блока. Приложение может автоматически создаваться генератором прикладных программ Automatic Application Program Generator (AAPG), встроенным в систему CASCON.

По материалам www.globalsmt.net со ссылкой на www.goepel.com.