Новое оборудование и материалы
10 апреля 2015
Новые электронные микроскопы с улучшенной технологией Gemini от компании ZEISS
Компания ZEISS представляет новое поколение автоэмиссионных сканирующих электронных микроскопов (FE-SEM – field emission scanning electron microscope) с улучшенной технологией Gemini. Изделия с проверенной технологией Gemini сочетают в себе применение электростатических и магнитных полей и обеспечивают эффективное детектирование, высокое разрешение, а также простоту использования.
Новое семейство микроскопов GeminiSEM предназначено для получения изображений низкого напряжения и высокой контрастности для любых образцов. Эти приборы поставляются с инновационной оптической системой. Линзы Nano-twin обеспечивают высокую контрастность и субнанометровое разрешение. Технология NanoVP позволяет выполнять внутрилинзовое детектирование при давлении до 150 Па.
Семейство микроскопов Sigma предназначенно для получения высококачественных изображений и выполнения передовых аналитических исследований с помощью микроскопии. Четырехступенчатый структурированный процесс обеспечивает высокую производительность при получении изображений. Большой выбор опций детекторов позволяет пользователям приспосабливать приборы семейства Sigma к своим задачам: получению изображений частиц, поверхностей, наноструктур, тонких пленок, покрытий или слоев.
По информации с сайта www.zeiss.com
|