Новое оборудование и материалы

Keysight Technologies: выпуск ПО WaferPro Express 2015 для измерения параметров полупроводниковых пластин

На сайте компании «Интермера» сообщается, что компания Keysight Technologies объявила о выпуске WaferPro Express 2015 – программной платформы для автоматизированного измерения параметров полупроводниковых приборов на уровне пластин. Эффективно управляя всеми компонентами измерительной системы (измерительными приборами и пробниками), WaferPro Express уменьшает сложность схемы тестирования и предлагает единую платформу для эффективных автоматизированных измерений и обработки данных.

Как сообщается, главной революционной особенностью ПО WaferPro Express 2015 является его тесная интеграция с ПО управления зондовой станцией Velox 2.0 компании Cascade Microtech. WaferPro Express и Velox 2.0 объединяются через Cascade Microtech WaferSync – совместно разработанный двунаправленный канал связи. Этот канал позволяет полностью синхронизировать карту полупроводниковой пластины и обеспечивает безошибочный обмен информацией между компонентами программы, включая информацию о выравнивании пластины, участках и кристаллах.

Более подробно о программном обеспечении WaferPro Express, его характеристиках и возможности его получения можно узнать на сайте компании «Интермера»

По информации с сайта intermera.ru