Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
QUICK TEST – мощная опция функционального контроля для тестеров с подвижными пробниками компании Seica - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
QUICK TEST – мощная опция функционального контроля для тестеров с подвижными пробниками компании Seica  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости практической технологии » QUICK TEST – мощная опция функционального контроля для тестеров с подвижными пробниками компании Seica

Новости практической технологии

20 мая 2015

QUICK TEST – мощная опция функционального контроля для тестеров с подвижными пробниками компании Seica

Фото с сайта www.sovtest.ru

Обычно оператор тестеров с подвижными пробниками вынужден в достаточно короткие сроки подготавливать тестовые программы, особенно если речь идет о многономенклатурном контрактном производстве электроники. При этом на изучение схемотехники тестируемых модулей просто нет времени.

При необходимости создания тестовых программ для функционального тестирования эта ситуация усугубляется еще больше - автоматической генерации макротестов уже недостаточно. Нужно понимать, что вы хотите делать, к каким последствиям это может привести и знать какие тестовые инструменты вы хотите использовать и для каких целей. Обязательным условием является знание специализированного языка для функционального программирования, а также архитектуры компонентов. Идеальное решение такого рода задач – опция QUICKTEST (Быстрое Тестирование).

Используя QUICKTEST, практически каждый может написать простой функциональный тест без знания специализированных макросов. Достаточно иметь только принципиальную схему изделия. Программа автоматически задействует необходимые тестовые инструменты и обеспечит коммутацию к требуемым цепям/сигналам/компонентам. Используя QUICKTEST вы можете изменять: параметры частотных сигналов, напряжение, ток; генерировать аналоговые и цифровые сигналы – и все это в течение считанных минут. Более того, опция QUICKTEST автоматически интегрируется в тестовую программу.

Таким образом, QUICKTEST полностью меняет философию тестеров с подвижными пробниками фирмы Seica. Данная опция открывает двери для функционального тестирования на базе внутрисхемных тестеров с подвижными пробниками, а также позволяет изменить и улучшить тестовые программы для внутрисхемного контроля изделий.

За более подробной информацией о данной опции обращайтесь к специалистам ООО "Совтест АТЕ" по бесплатному федеральному номеру 8 800 200 54 17 или направьте запрос по электронной почте info@sovtest.ru. Специалисты компании свяжутся с вами и ответят на все интересующие вас вопросы.

Информация с сайта www.sovtest.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства