Новое оборудование и материалы

Контрольно-измерительная установка для систем в корпусе MP-520 от компании MIRTEC будет показана на выставке SEMICON West в США

Компания MIRTEC на выставке SEMICON West, которая пройдет 14-16 июля в Сан-Франциско, США, продемонстрирует самые последние решения для контроля и измерений систем в корпусе (SiP). Эта новая технология будет показана на стенде # 2343.

Установка MP-520 была разработана специально для того, чтобы преодолеть сложности, связанные с инспекцией систем в корпусе. Она сочетает в себе технологию прецизионных линейных двигателей, эксклюзивную СТЗ разрешением 25 мегапикселей CoaXPress от компании MIRTEC, конфокальную трехмерную измерительную систему и революционную цифровую муаровую многочастотную 3D технологию OMNI-VISION, что обеспечивает быстрый контроль и измерения с высоким разрешением систем в корпусе и других полупроводниковых изделий.

Система MP-520 подходит для измерений и инспекции по следующим критериям:

• Шариковый / столбиковый вывод – наличие, шаг, смещение, высота, копланарность и перемычки.
• Проволочное соединение – замыкание, разрыв, смещение и высота петли.
• Крепление кристалла – смещение, высота, трещина и скол.
• Дискретный компонент – наличие, смещение, высота, копланарность и галтель паяного соединения.
• Радиатор – наличие, смещение и высота.
• Подзаливка – наличие, галтель и высота.
• Печатная плата – царапина, загрязнение и перемычка.
• Корпус – коробление, трещина, маркировка, размеры и сколы.

Результаты контроля и измерений сохраняются в централизованной базе данных, обеспечивая пользователям удаленный доступ к данным статистического управления процессом посредством ПО управления качеством INTELLISYS компании MIRTEC.

Сайт компании MIRTEC: www.mirtec.com

По информации с сайта www.circuitnet.com (pdf)