Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Компании MIRTEC и YXLON получили совместную награду Global Technology Award в категории «Программное обеспечение – производство» за систему повышения выхода годных SmartLoop - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Компании MIRTEC и YXLON получили совместную награду Global Technology Award в категории «Программное обеспечение – производство» за систему повышения выхода годных SmartLoop  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Компании MIRTEC и YXLON получили совместную награду Global Technology Award в категории «Программное обеспечение – производство» за систему повышения выхода годных SmartLoop

Новое оборудование и материалы

18 ноября 2015

Компании MIRTEC и YXLON получили совместную награду Global Technology Award в категории «Программное обеспечение – производство» за систему повышения выхода годных SmartLoop

Награждение состоялось в рамках церемонии, которая прошла 10 ноября 2015 года в Мюнхене (Германия) в выставочном центре Messe München на выставке productronica.

Система SmartLoop обеспечивает непосредственную передачу информации между встроенной в линию установкой 3D-АОИ и системой рентгеновского 2D-контроля, которая становится станцей проверки сделанных системой 3D-АОИ измерений высоты. Система 3D-АОИ сама по себе может только измерять различия по высоте (оси z) у таких компонентов, как BGA, и давать приблизительную оценку качества и неохбодимости восстановления паяных соединений, располагающихся под корпусом компонента.

Время рентгеновского контроля также значительно сокращается за счет того, что система автоматически выбирает для проведения инспекции только подозрительные компоненты. В рамках этой технологии система 3D-АОИ предоставляет гораздо более содержательную информацию по компонентам с расположением выводов с нижней стороны корпуса, и такое объединение систем АОИ и рентгеновского контроля предоставляет оператору средство для принятия правильных решений, интеллектуальной обратной связи и совершенствования процесса.

По материалам globalsmt.net.

___________

Наградой Global Technology Awards, представленной одним из ведущих отраслевых журналов Global SMT & Packaging, начиная с 2005 года ежегодно отмечаются инновации в области технологического оборудования и материалов для производства электроники в рамках различных категорий. Оценка представленного оборудования и материалов проводится независимой международной панелью, состоящей из ведущих отраслевых экспертов. В 2015 году награда вручается в 10-ый раз. Церемония награждения 2015 года состоялась 10 ноября в Мюнхене (Германия) в выставочном центре Messe München в рамках выставки productronica – 2015.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства