Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
AdMOS: новая система измерения фликер-шума 3001B - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
AdMOS: новая система измерения фликер-шума 3001B - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » AdMOS: новая система измерения фликер-шума 3001B

Новое оборудование и материалы

28 марта 2016

AdMOS: новая система измерения фликер-шума 3001B

ООО «Интермера» сообщает, что компания AdMOS (http://www.admos.de/en/), Германия – разработчик ПО для анализа моделей полупроводников – представила свою новую систему измерения фликер-шума 3001В. Большой опыт работы компании в области создания моделей полупроводниковых устройств позволил AdMOS воплотить в компактной измерительной системе все необходимое для измерений параметров электронных устройств с целью создания высококачественных шумовых моделей учитывающих 1/f-шум (фликер-шум).

Система измерения фликер-шума 3001В состоит из блока фильтров, располагаемого близко к тестируемому устройству, и блока управления, обеспечивающего связь с управляющим компьютером, с установленным на нем специальным ПО разработки компании AdMOS в формате IC-CAP. Подобное решение позволяет минимизировать искажения и увеличить точность измерений фликер-шума.

Система 3001В позволяет измерять параметры полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT и т. д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов. Более того, параметры таких схем, как операционные усилители, также могут быть измерены при помощи системы 3001B.

Для работы системы измерения фликер-шума 3001В необходимы внешние источники-анализаторы постоянного тока, динамический анализатор спектра (например, производства Stanford Research Systems, США), ПК с ОС Windows 7/8/10.

Компания AdMOS также оказывает услуги заказчикам по проведению измерений тестовых структур заказчика, по генерации моделей полупроводниковых структур с учетом ВЧ эффектов, по экстракции параметров из измеренных данных, проводит тренинги и технические консультации по моделированию на IC-CAP с учетом ВЧ эффектов и работе с пакетом BSIM3 для IC-CAP по экстракции КМОП ВЧ (CMOS RF).

Более подробная информация приводится на сайте ООО «Интермера».

Информация с сайта intermera.ru





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства