Новости практической технологии
21 сентября 2016
Совмещение станций периферийного сканирования JTAG Technologies и адаптерных тестеров Ingun
Изображение с сайта ostec-electro.ru
Как говорится в новости ООО «Остек-Электро», в последнее время у клиентов компании все чаще можно встретить решения по интеграции технологии периферийного сканирования JTAG и традиционных методов тестирования печатных узлов.
Современные печатные платы становятся все сложнее, на них монтируют все более интегрированные компоненты, и физическая доступность плат для методов внутрисхемного тестирования постоянно снижается. Этому способствует и распространение технологии поверхностного монтажа – на плате становится все меньше контактных тестовых площадок. В результате с ростом сложности плат падает уровень тестового покрытия для традиционных тестовых методов, а вместе с ним снижается и контролепригодность устройств в целом. Конечно, многие современные микросхемы оснащены интерфейсом JTAG, что обеспечивает доступ к их внутренней структуре. На этом основан метод периферийного сканирования печатных плат. Это повышает их контролепригодность. Но этот метод не позволяет тестировать более простые аналоговые платы. Поэтому компания JTAG Technologies предложила решение, объединяющее возможности технологий периферийного сканирования и традиционных тестовых методов. Это новый контроллер периферийного сканирования JT5705/FXT. Он выполнен в виде печатной платы 60×75 мм. Контроллер поддерживает два JTAG-порта, соответствующих стандарту IEEE 1149.1. Кроме того, на плате предусмотрены 64 цифровых канала ввода / вывода сигналов, восемь из которых можно использовать как аналоговые. С помощью аналоговых портов на тестируемую плату можно подавать заданное напряжение и измерять параметры выходных сигналов (напряжение, частоту, ширину импульса). Один из выводов можно запрограммировать как тактовый генератор (до 62,5 МГц). Кроме того, на плате размещена ПЛИС, доступная для программирования пользователям. Она позволяет адаптировать контроллер для конкретных задач. Таким образом, контроллер JT 5705/FXT объединяет мир цифровых и аналоговых измерений, обеспечивая наиболее полное тестовое покрытие для любого вида плат – и сложных цифровых, и простых аналоговых.
Особой популярностью пользуется совмещение такого контроллера JT5705/FXT с адаптерными тестерами типа Ingun MA 21xx. Их синтез происходит по следующему принципу: контроллер JT 5705/FXT через несущие платы серии JT 2702 подключается к системе типа «ложе гвоздей». Для адаптеров компании Ingun создана плата JT 2702/IG с двумя посадочными местами для плат контроллера JT 5705/FXT и специальными матричными разъемами для подключения непосредственно к тестовой кассете. Кроме того, на плате реализован программируемый коммутатор, позволяющий динамически подключать щупы тестера к заданным портам ввода/вывода контроллеров. Причем, через интерфейс несущей платы можно подключать источники питания и даже персональный компьютер – возможности интеграции практически не ограничены. И на данный момент это вполне оправданно и востребовано.
Информация с сайта ostec-electro.ru
|