Новое оборудование и материалы

Оптические профилометры серии BW японской фирмы Nikon

Профилометр BW-D501 с высокоскоростной камерой
Изображение с сайта www.sovtest.ru

В зависимости от решаемых задач за основу профилометра может быть взят один из трех типов микроскопов: измерительный микроскоп серии MM, микроскоп для контроля качества пластин и фотошаблонов L200/L300 или исследовательский микроскоп серии LV. Таким образом, BW-S50X и BW-D50X – это не только профилометры, но и высококлассные микроскопы, позволяющие решать задачи измерений, контроля или исследований.

Компания Nikon разработала и запатентовала собственную технологию измерения профиля поверхности, основанную на методе сканирующей оптической интерферометрии. Благодаря этой технологии разрешение по высоте может достигать 1 пикометра (1 пм), что подтверждается сертификатом компании VLSI Standards (Маунтин-Вью, Калифорния).

Оптические микроскопы-профилометры серии BW являются незаменимым инструментом для анализа поверхности и шероховатости таких материалов, как стекло, керамика, полупроводниковые пластины, подшипники, сенсоры, тонкие пленки, графен, пресс-формы, резина, металл, пластик и многое другое.

Модели с высокоскоростной (2000 fps, скорость сканирования 4 с) и высокоточной камерой предназначены для измерений гладких поверхностей, таких как стекло или полупроводниковые пластины; модели с камерой высокого разрешения (4,18 Мп, скорость сканирования 16 с) – для измерений как гладких, так и неровных поверхностей.

Более подробная информация о данном оборудовании его опциях и принципе действия приводится в полном тексте новости компании «Совтест АТЕ».

Информация с сайта www.sovtest.ru