Информационный портал по технологиям производства электроники
JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новости практической технологии » JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров

Новости практической технологии

01 ноября 2016

JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров

JTAG Technologies анонсирует новый программный инструмент CTPG, использование которого увеличит тестовое покрытие и скорость тестирования плат, проверяемых с помощью периферийного сканирования. В то время как классическая технология периферийного сканирования использует для тестирования цифровых узлов стандартные регистры IEEE 1149.1, новая методика использует доступ через JTAG-интерфейс к ядрам микроконтроллеров, процессоров и FPGA. Но самая главная особенность программы CTPG – это возможность автоматически генерировать тестовые векторы для проверки микросхем памяти, подключенных к соответствующему микроконтроллеру.

Тестирование микросхем ОЗУ с помощью регистров периферийного сканирования процессоров или ПЛИС, к которым подключена память, уже давно автоматизировано: создание тестов занимает считанные секунды. Однако периферийное сканирование предоставляет довольно медленный тест, при котором могут быть упущены те дефекты на линиях ОЗУ, которые проявляются на рабочих частотах. Кроме того, тест может быть вообще не осуществим, если контроллер или процессор не поддерживает стандарт периферийного сканирования, а JTAG-интерфейс предоставляет доступ только к ядру. Создание же тестов памяти с использованием ядра вручную – довольно трудоемкое занятие. Поэтому в компании JTAG Technologies был создан программный инструмент автоматической генерации таких тестов.

Изображение предоставлено компанией JTAG Technologies.

Программа CTPG работает со всеми тестерами JTAG Technologies и средой разработки тестов JTAG ProVision. Также как и автоматически созданные приложения, использующие периферийное сканирование, тесты CTPG в результате их выполнения предоставляют пользователю диагностические сообщения о наличии и местоположении найденных дефектов в текстовом виде. Найденные неисправные цепи и выводы компонентов могут быть отображены на рисунке печатной платы и схеме изделия с помощью программы JTAG Visualizer.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

избранные сервера кс 1 6
Продаем климатические камеры TABAI MC-71
Re: Автомат SMD i-PULSE M4e (YAMAHA)
Re: Куплю БУ автоматический принтер

Последние новости

Итоги круглого стола «Внедрение высокотехнологичной радиоэлектроники в агропромышленный комплекс РФ»
подробнее
Специальная акция от направления энергоэффективности ГК Остек на «Умные» источники бесперебойного питания
подробнее
Двухканальные осциллографы Актаком серии ADS-6000 включены в Госреестр средств измерений
подробнее
SEICA – новинки с выставки Productronica 2017
подробнее
Итоги участия в выставке Testing & Control-2017
подробнее
Росэлектроника создаст к 2022 году во Владикавказе сервисный центр спецтехники
подробнее
Победитель выставки «Рост.UР» – разработка ТУСУР для автоматизации тестирования компонентов информационных магистралей космической техники
подробнее
© “Элинформ” 2007-2017.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства