Информационный портал по технологиям производства электроники
JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новости практической технологии » JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров

Новости практической технологии

01 ноября 2016

JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров

JTAG Technologies анонсирует новый программный инструмент CTPG, использование которого увеличит тестовое покрытие и скорость тестирования плат, проверяемых с помощью периферийного сканирования. В то время как классическая технология периферийного сканирования использует для тестирования цифровых узлов стандартные регистры IEEE 1149.1, новая методика использует доступ через JTAG-интерфейс к ядрам микроконтроллеров, процессоров и FPGA. Но самая главная особенность программы CTPG – это возможность автоматически генерировать тестовые векторы для проверки микросхем памяти, подключенных к соответствующему микроконтроллеру.

Тестирование микросхем ОЗУ с помощью регистров периферийного сканирования процессоров или ПЛИС, к которым подключена память, уже давно автоматизировано: создание тестов занимает считанные секунды. Однако периферийное сканирование предоставляет довольно медленный тест, при котором могут быть упущены те дефекты на линиях ОЗУ, которые проявляются на рабочих частотах. Кроме того, тест может быть вообще не осуществим, если контроллер или процессор не поддерживает стандарт периферийного сканирования, а JTAG-интерфейс предоставляет доступ только к ядру. Создание же тестов памяти с использованием ядра вручную – довольно трудоемкое занятие. Поэтому в компании JTAG Technologies был создан программный инструмент автоматической генерации таких тестов.

Изображение предоставлено компанией JTAG Technologies.

Программа CTPG работает со всеми тестерами JTAG Technologies и средой разработки тестов JTAG ProVision. Также как и автоматически созданные приложения, использующие периферийное сканирование, тесты CTPG в результате их выполнения предоставляют пользователю диагностические сообщения о наличии и местоположении найденных дефектов в текстовом виде. Найденные неисправные цепи и выводы компонентов могут быть отображены на рисунке печатной платы и схеме изделия с помощью программы JTAG Visualizer.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Re: Дозатор высокой точности
Re: Продается оборудование для SMD монтажа
Re: Паяльные пасты Российского производства
Продается линия SMD-монтажа

Последние новости

«Микрон» совершенствует систему экологического менеджмента в соответствии с новыми стандартами ISO
подробнее
Группа компаний Остек приглашает на тренинг по стандарту IPC-7711/7721 «Восстановление, модернизация и ремонт печатных плат и электронных сборок»
подробнее
Росэлектроника покажет в «Патриоте» более двухсот устройств и систем для нужд обороны
подробнее
Rehm отправится в Индию
подробнее
ЭЛИКС приглашает на семинар-демонстрацию новейшего цифрового осциллографа TEKTRONIX MSO54 5-BW-350
подробнее
Льготные условия на приобретение программного обеспечения Altium Designer по программе Минпромторга
подробнее
Rehm попал в список лучших поставщиков автомобильного подразделения Continental
подробнее
© “Элинформ” 2007-2017.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства