Главная » Новости » Новости компаний » Ввод в эксплуатацию комплекса входного контроля интегральных микросхем на одном из предприятий группы компаний «Радиант»
Новости компаний
30 ноября 2016
Ввод в эксплуатацию комплекса входного контроля интегральных микросхем на одном из предприятий группы компаний «Радиант»
В новости ООО «Совтест АТЕ» сообщается, что на одном из предприятий группы компаний «Радиант» в г. Москве успешно введен в эксплуатацию комплекс оборудования для входного контроля широкой номенклатуры интегральных микросхем. В основу данного комплекса вошли тестер FT-17MINI и температурная камера TIRA TCC7010.
В ходе реализации проекта сотрудники группы компаний «Совтест» совместно разработали и внедрили порядка 20 тестовых решений для проведения входного контроля импортных микросхем, в том числе решения для электрического тестирования в многоместном (мультисайтовом) режиме в диапазоне температур от –60 до 125°С. Специалисты «Радиант» уже протестировали несколько тысяч микросхем. В настоящий момент продолжаются работы по разработке новых тестовых решений для других типов микросхем.
Тестер FT-17MINI полностью разработан и производится в России группой компаний «Совтест» и является средством измерения утвержденного типа (Свидетельство RU.C.35.004.А №62290). Тестер предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле. FT-17MINI – недорогое оптимальное решение для лабораторий входного контроля и сертификационных центров, по своим характеристикам не уступающее отечественным и зарубежным аналогам, но значительно выигрывающее у них в цене.
ООО «Совтест АТЕ» производит целую линейку оборудования для тестирования электронных компонентов:
- тестер микросхем FT-17HF для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц;
- тестер микросхем FT-17DT – настольный вариант тестера FT-17HF;
- тестер полупроводниковых приборов FT-17SC для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и других полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и измерения электрических параметров и характеристик изделий в процессе исследований;
- тестер реле FT-17R для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121–86;
- функциональный тестер FT-17M для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения.
Информация с сайта www.sovtest.ru
|