Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости САПР » Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer

Новости САПР

01 февраля 2017

Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer

Компания JTAG Technologies, ведущий эксперт в области периферийного сканирования, сообщает о совместном с Altium создании программного продукта: JTAG Maps.

Огромное количество разрабатываемых сегодня устройств поддерживает технологию периферийного сканирования, что позволяет их тестировать, диагностировать дефекты сборки и брак компонентов, выявлять контрафактную ЭКБ, программировать ПЗУ и микроконтроллеры и проводить отладку опытных образцов. JTAG Maps – это простое дополнение к среде Altium Designer, позволяющее тщательно рассчитать JTAG-покрытие разрабатываемой схемы еще до момента трассировки печатной платы.

До недавнего времени автоматический расчет тестового покрытия мог быть произведен только с помощью профессиональных программных средств периферийного сканирования. Если инженер-разработчик хотел отметить на схеме цепи, к которым есть доступ периферийного сканирования, то это приходилось делать вручную. Сегодня бесплатное дополнение к Altium, JTAG Maps, наконец, позволяет автоматизировать этот процесс. Расчет тестового покрытия будущих изделий стал в разы более доступным.

При создании тестов периферийного сканирования необходимыми данными являются так называемые BSDL-файлы. Только они точно описывают,  какие выводы ИМС имеют тестовый доступ, а также их возможные варианты использования. Но на этапе разработки возможна такая ситуация, когда у инженера нет в наличии BSDL-файлов. С JTAG Maps эта проблема не страшна: в программе предусмотрена возможность установки специального атрибута «Assume Scan Covered» для пинов. Это атрибут предполагает, что выводы компонента имеют возможность периферийного сканирования. Эта установка может также использоваться для других узлов изделия. С помощью данного атрибута, например, можно указать программе на пины разъемов, которые могут тестироваться за счет внешних DIOS-модулей.

JTAG Maps автоматически распознает JTAG-цепочки, вне зависимости от того, сколько в них компонентов с поддержкой периферийного сканирования, и сколько этих цепочек на исследуемой плате. Цепи TAP-сигналов (JTAG-интерфейса) будут подсвечены цветом, отличным от цепей, тестируемых периферийным сканированием.

Несмотря на то, что большое число пользователей будут удовлетворены быстрым и упрощенным отчетом, который обеспечивает JTAG Maps, существует возможность увидеть более подробную картину тестового покрытия. Из JTAG Maps может быть экспортирован специальный файл, который затем можно отправить в техническое представительство JTAG Technologies, где он будет обработан и по результатам анализа вам будет предоставлен файл с более точным и подробным покрытием, отражающий все возможные тесты.

Для инженеров, которые пожелают в дальнейшем применить периферийное сканирование на своих изделиях, JTAG Technologies предоставляет 2 базовых варианта платформ. JTAG Live Studio является бюджетной платформой, позволяющей создавать функциональные тесты узлов цифровых ПП с использованием периферийного сканирования. JTAG ProVision – полностью автоматизированная САПР для генерации тестов и приложений для программирования ПЗУ и ПЛИС с обширными библиотеками моделей ЭКБ.

Программа JTAG Maps доступна на сайте компании Altium.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies www.jtagtechnologies.ru





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства