Информационный портал по технологиям производства электроники
Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новости САПР » Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer

Новости САПР

01 февраля 2017

Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer

Компания JTAG Technologies, ведущий эксперт в области периферийного сканирования, сообщает о совместном с Altium создании программного продукта: JTAG Maps.

Огромное количество разрабатываемых сегодня устройств поддерживает технологию периферийного сканирования, что позволяет их тестировать, диагностировать дефекты сборки и брак компонентов, выявлять контрафактную ЭКБ, программировать ПЗУ и микроконтроллеры и проводить отладку опытных образцов. JTAG Maps – это простое дополнение к среде Altium Designer, позволяющее тщательно рассчитать JTAG-покрытие разрабатываемой схемы еще до момента трассировки печатной платы.

До недавнего времени автоматический расчет тестового покрытия мог быть произведен только с помощью профессиональных программных средств периферийного сканирования. Если инженер-разработчик хотел отметить на схеме цепи, к которым есть доступ периферийного сканирования, то это приходилось делать вручную. Сегодня бесплатное дополнение к Altium, JTAG Maps, наконец, позволяет автоматизировать этот процесс. Расчет тестового покрытия будущих изделий стал в разы более доступным.

При создании тестов периферийного сканирования необходимыми данными являются так называемые BSDL-файлы. Только они точно описывают,  какие выводы ИМС имеют тестовый доступ, а также их возможные варианты использования. Но на этапе разработки возможна такая ситуация, когда у инженера нет в наличии BSDL-файлов. С JTAG Maps эта проблема не страшна: в программе предусмотрена возможность установки специального атрибута «Assume Scan Covered» для пинов. Это атрибут предполагает, что выводы компонента имеют возможность периферийного сканирования. Эта установка может также использоваться для других узлов изделия. С помощью данного атрибута, например, можно указать программе на пины разъемов, которые могут тестироваться за счет внешних DIOS-модулей.

JTAG Maps автоматически распознает JTAG-цепочки, вне зависимости от того, сколько в них компонентов с поддержкой периферийного сканирования, и сколько этих цепочек на исследуемой плате. Цепи TAP-сигналов (JTAG-интерфейса) будут подсвечены цветом, отличным от цепей, тестируемых периферийным сканированием.

Несмотря на то, что большое число пользователей будут удовлетворены быстрым и упрощенным отчетом, который обеспечивает JTAG Maps, существует возможность увидеть более подробную картину тестового покрытия. Из JTAG Maps может быть экспортирован специальный файл, который затем можно отправить в техническое представительство JTAG Technologies, где он будет обработан и по результатам анализа вам будет предоставлен файл с более точным и подробным покрытием, отражающий все возможные тесты.

Для инженеров, которые пожелают в дальнейшем применить периферийное сканирование на своих изделиях, JTAG Technologies предоставляет 2 базовых варианта платформ. JTAG Live Studio является бюджетной платформой, позволяющей создавать функциональные тесты узлов цифровых ПП с использованием периферийного сканирования. JTAG ProVision – полностью автоматизированная САПР для генерации тестов и приложений для программирования ПЗУ и ПЛИС с обширными библиотеками моделей ЭКБ.

Программа JTAG Maps доступна на сайте компании Altium.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies www.jtagtechnologies.ru


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Remark Lire Un Fichier Audio Au Format FLAC
.WAV InMP3 Umwandeln
MP3 Converter Software Kostenloser Download
ALAC Vs FLAC

Последние новости

Конференция «Кадры российской электроники»
подробнее
Вебинар «Обзор Новых Возможностей Altium Designer® 18.0»
подробнее
RFID разработки Микрона для цифровой экономики
подробнее
Концерн «Созвездие» наращивает объемы НИОКР в сотрудничестве с вузами
подробнее
Модернизация камер ускоренных испытаний
подробнее
Новый точный дозатор Mechatronic Systems D10
подробнее
Концерн «Созвездие» приступил к поставкам осветительных блоков модуля «ЭРА-ГЛОНАСС» для машин АвтоВАЗа
подробнее
© “Элинформ” 2007-2018.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства