Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017 - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017 - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости компаний » Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017

Новости компаний

21 апреля 2017

Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017

13 и 14 апреля в МИЭМ НИУ ВШЭ  прошла Международная научно-практическая конференция «Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017», организуемая совместно с компанией National Instruments.

Конференция собрала более 100 участников из России, стран Европы и Азии.

С приветственным словом выступил руководитель департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ профессор Львов Б.Г., поблагодарив участников и пожелав им плодотворной работы.

Целью конференции было обсуждение вопросов, связанных с внедрением инновационных технологий для решения инженерных задач, их использованию для автоматизации производства и экспериментальных установок, моделированию, обработке сигналов и результатов научного эксперимента, проведению удаленного эксперимента и повышению эффективности обучения студентов техническим дисциплинам и общего уровня инженерного образования.
 
В рамках конференции были представлены доклады по следующим направлениям:

  • Радиотехника и беспроводные технологии
  • Автоматизация, встраиваемые системы, робототехника
  • Электроника и микроэлектроника
  • Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных
  • Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования
  • Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов
  • Автоматизация научного эксперимента

Также было проведено 4 секции, 6 мастер-классов и круглых столов.

На протяжении всей конференции работала выставка оборудования National Instruments, которая вызвала большой интерес у участников, а также студентов и преподавателей МИЭМ НИУ ВШЭ.

Информация с сайта miem.hse.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства