Информационный портал по технологиям производства электроники
Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017 - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новости компаний » Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017

Новости компаний

21 апреля 2017

Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017

13 и 14 апреля в МИЭМ НИУ ВШЭ  прошла Международная научно-практическая конференция «Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017», организуемая совместно с компанией National Instruments.

Конференция собрала более 100 участников из России, стран Европы и Азии.

С приветственным словом выступил руководитель департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ профессор Львов Б.Г., поблагодарив участников и пожелав им плодотворной работы.

Целью конференции было обсуждение вопросов, связанных с внедрением инновационных технологий для решения инженерных задач, их использованию для автоматизации производства и экспериментальных установок, моделированию, обработке сигналов и результатов научного эксперимента, проведению удаленного эксперимента и повышению эффективности обучения студентов техническим дисциплинам и общего уровня инженерного образования.
 
В рамках конференции были представлены доклады по следующим направлениям:

  • Радиотехника и беспроводные технологии
  • Автоматизация, встраиваемые системы, робототехника
  • Электроника и микроэлектроника
  • Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных
  • Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования
  • Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов
  • Автоматизация научного эксперимента

Также было проведено 4 секции, 6 мастер-классов и круглых столов.

На протяжении всей конференции работала выставка оборудования National Instruments, которая вызвала большой интерес у участников, а также студентов и преподавателей МИЭМ НИУ ВШЭ.

Информация с сайта miem.hse.ru.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Re: Периферийное сканирование J-Tag
Re: На что обращать внимание при выборе принтера для трафаретной печати
CATAMBERJewelry Natural Baltic BIRTHDAY SOUVENIR BALTIC AMBER
Best Scene Music Free mp3

Последние новости

Качество и многофункциональность – мультиметр Актаком АМ-1060
подробнее
«Диполь» расскажет об Интеллектуальном производстве
подробнее
Московский технологический университет подписал соглашение с Keysight Technologies
подробнее
Объединенная Росэлектроника заместит зарубежные системы навигации в гражданских вертолетах
подробнее
Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017
подробнее
В компании Ассемрус открыта вакансия инженера отдела сервиса
подробнее
Разработана новая технология закрепления разъемов для контроля усилий стыковки / расстыковки бортовых разъемов
подробнее
© “Элинформ” 2007-2017.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства