Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Документирование результатов оптического контроля на цифровом микроскопе Inspectis C12 - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Документирование результатов оптического контроля на цифровом микроскопе Inspectis C12 - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Документирование результатов оптического контроля на цифровом микроскопе Inspectis C12

Новое оборудование и материалы

29 мая 2017

Документирование результатов оптического контроля на цифровом микроскопе Inspectis C12

Inspectis C12, цифровой микроскоп от стратегического партнера компании Nikon Metrology, является идеальным решением для визуального контроля и инспекции.

На прошедшей в конце апреля 2017 г. выставке «ЭкспоЭлектроника-2017» данный микроскоп пользовался повышенным вниманием  у посетителей стенда «Совтест АТЕ». Одной из ключевых особенностей микроскопа была отмечена система автоматической фокусировки микроскопа, при этом скорость работы автофокуса составляет менее 1с.

Ещё одним преимуществом Inspectis C12 является документирование полученных результатов оптического контроля в программном обеспечении Metris при подключении микроскопа к ПК или ноутбуку через модуль видеозахвата (интерфейс USB 3.0).

Программа имеет русифицированный интерфейс, и помимо просмотра и захвата изображений предлагает широкий набор функций для геометрических измерений, калибровки, наложения изображений в реальном времени и аннотаций на полученные изображения, сравнения изображений, масштабирования и пр.

Ссылки на брошюру с более подробной информацией о возможностях программного обеспечения Metris, страницу модели с полным обзором микроскопа Inspectis C12, а также видео с примером работы системы автофокусировки Inspectis C12 представлены в полном тексте новости компании «Совтест АТЕ».

Информация с сайта http://www.sovtest.ru/news/company-news/dokumentirovanie-rezultatov-opticheskogo-kontrolya-na-tsifrovom-mikroskope-inspectis-c12/





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства