Информационный портал по технологиям производства электроники
Измерительные стенды для больших и сверхбольших интегральных схем J750Ex-HD внесены в Госреестр средств измерений - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новости российского рынка » Измерительные стенды для больших и сверхбольших интегральных схем J750Ex-HD внесены в Госреестр средств измерений

Новости российского рынка

30 августа 2017

Измерительные стенды для больших и сверхбольших интегральных схем J750Ex-HD внесены в Госреестр средств измерений

Компания «Совтест АТЕ» получила официальное свидетельство об утверждении типа средств измерений для измерительных стендов БИС и СБИС J750Ex-HD. Государственный документ выдан Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии.

Система J750Ex-HD (США) предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit). Используется для контроля параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе.

Информация с сайта sovtest-ate.com.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Повышение квалификации
Автоматизация расчетов надежности
Продает ли кто старый принтер MOTOPRINT на запчасти?
Прикольные фотки

Последние новости

Остек-Электро приглашает на семинар по новинкам контрольно-измерительного оборудования AnaPico
подробнее
Микроэлектроника для IoT и 5G
подробнее
«Ангстрем» подвел итоги участия в выставке ChipExpo 2017
подробнее
Модуль сбора данных SAM40
подробнее
Rohde&Schwarz приглашает на выставку RADEL – 2017 и семинар «Решения компании Rohde&Schwarz для измерений в радиоэлектронике и тестирования в соответствии с требованиями электромагнитной совместимости (ЭМС)»
подробнее
Остек-Интегра приглашает на семинар «Современные технологические материалы для участка сборки печатных узлов и РЭА» на выставке РАДЭЛ 2017
подробнее
Итоги Премии «Живая электроника России-2017»
подробнее
© “Элинформ” 2007-2017.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства