Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
JTAG Technologies представила новый Visualizer с функциями для быстрой отладки - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
JTAG Technologies представила новый Visualizer с функциями для быстрой отладки - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » JTAG Technologies представила новый Visualizer с функциями для быстрой отладки

Новое оборудование и материалы

13 ноября 2017

JTAG Technologies представила новый Visualizer с функциями для быстрой отладки

Всесторонняя поддержка систем CAD

Visualizer с широким спектром фильтров импорта из различных CAD (EDA) — выбор № 1 для инженеров-разработчиков периферийного сканирования и тестовых инженеров. Пользователи могут импортировать схемотехнические данные напрямую из Mentor (Pads, DxDesigner, Capture), Cadence, Altium и Zuken, информацию о топологии печатной платы в формате ODB++, а также в других форматах.

JTAG Maps

Представленная в этой версии Visualizer новая функция Maps позволяет просматривать базовое тестопригодное покрытие изделия простым кликом мыши. Можно использовать настраиваемые цвета для отображения уровней тестового покрытия, чтобы указать уровень, который можно вывести на экран или распечатать. Как только разрабатываемое устройство оптимизировано для тестового покрытия периферийного сканирования по JTAG и передано для разработки PCB, заключительная разработка тестовых приложений начинается в инструменте JTAG ProVision разработчик.

Дополнительный функционал

  • Visualize on (Test) Fail: в процессе отладки новых тестовых последовательностей в среде ProVision теперь можно автоматически просмотреть все цепи, содержащие ошибки, на схематическом представлении и чертеже РСВ. Эта функция идеальна для небольших производственных систем, где тестовый инженер несет ответственность за обнаружение ошибок и их устранение.
  • Locate Next: при поиске дефектов позволяет пользователю отслеживать расположение соединения через слои PCB или на страницах схемотехники.
  • Multiple Color Themes: пользователи могут определить многочисленные цветные темы для цветовой классификации цепей, например, для покрытия возможных отказов процента в схематике или сетей отказа в разметках, чтобы помочь в отладке и устранении неисправности.
  • View through layers: выделенная цепь, имеющая отказ, может теперь быть просмотрена на протяжении всего пути трассировки сквозь слои РСВ.
  • Add notes: примечание может быть добавлено в фиксированной позиции на схемотехнике или трассировке РСВ. Идеально для передачи дополнительной информации о тестовых процессах или в процессе разработки между пользователями.

Питер ван ден Эйнден, управляющий директор, комментирует: «Эти впечатляющие улучшения в Visualizer стали результатом нашей работы с пользователями, а также с поставщиками компонентов».

Информация с сайта ostec-electro.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства