Информационный портал по технологиям производства электроники
Тестер микросхем FT-17DT - запуск на предприятии «Крокус Наноэлектроника» - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новости компаний » Тестер микросхем FT-17DT - запуск на предприятии «Крокус Наноэлектроника»

Новости компаний

14 ноября 2017

Тестер микросхем FT-17DT - запуск на предприятии «Крокус Наноэлектроника»

Предприятие «Крокус Наноэлектроника» - первое в России производство интегральных схем на пластинах 300мм - расширило парк тестового оборудования новым стендом измерительным для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17DT-256, разработанным предприятием «Совтест».

Прибор FT-17DT установлен на участке измерений в чистой комнате компании «Крокус Наноэлектроника» и используется для автоматизированного функционального тестирования микросхем на пластинах 300мм в процессе производства и на этапе выходного контроля.

ООО «Совтест АТЕ» предлагает гибкое решение для тестирования микросхем, соответствующее требованиям конкретных разработок, позволяющих оптимизировать процесс измерений и добавлять новые функции. Так, система FT-17DT для «Крокус Наноэлектроника» адаптирована для измерений высокочастотных микросхем и запоминающих устройств на основе технологии нового поколения. При этом стоимость решения «Совтест АТЕ» значительно ниже иностранных аналогов. Поставка FT-17DT включает программную платформу для управления процессом измерений XperTest, которая является проприетарной разработкой предприятия «Совтест АТЕ». «Тестер FT-17DT является полностью российской разработкой и производится на собственном заводе нашего предприятия в Курске», – заявил Игорь Марков, генеральный директор ООО «Совтест АТЕ».

«Проведение функционального и параметрического тестирования является неотъемлемой частью процесса производства интегральных микросхем, – рассказал Алексей Хвальковский, директор по разработке продуктов ООО «Крокус Наноэлектроника. – Наше предприятие является самым современным полупроводниковым производством в России, и мы предъявляем соответствующие требования к метрологическому обеспечению. Результат работы с FT-17DT говорит о том, что мы нашли надежного партнера в лице ООО «Совтест АТЕ».

Сотрудничество предприятий не ограничивается поставкой данного измерительного комплекса и будет в дальнейшем направлено на развитие и оптимизацию продуктового портфеля «Крокус Наноэлектроника».

Информация с сайта sovtest-ate.com.


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Продам Quadra TWS Basic
Внутрисхемное тестирование на установке SPEA 4060 в А-КОНТРАКТ!
Re: Как выбрать AOI (сканирующая или камерная система)?
Re: Продаётся печь Ersa Hotflow 5 (б.у.)

Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2018.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства