Информационный портал по технологиям производства электроники
Новые возможности JTAG Visualizer: анализ тестопригодности - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта


Продвижение продукции, услуг и решений Реклама на портале
Подготовка технических и аналитических материалов, обзоры, информационный мониторинг Информационные услуги
Профессиональный перевод технических материалов: статей, инструкций, руководств, стандартов и проч. Технический перевод
Подписка на новости Подписаться на новости



Авторизация


Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Новые возможности JTAG Visualizer: анализ тестопригодности

Новое оборудование и материалы

05 февраля 2018

Новые возможности JTAG Visualizer: анализ тестопригодности

Поддержка широкого набора САПР

Программа JTAG Visualizer традиционно использовалась российскими пользователями систем периферийного сканирования JTAG ProVision и более ранних версий для позиционирования дефектов монтажа на схеме и рисунке печатной платы. Также программа отображает в графическом виде рассчитанное в JTAG ProVision тестовое покрытие. При этом поддерживаются все популярные САПР: Altium, Cadence, Mentor и т.д.

JTAGMaps

В новую версию Visualizer добавлена функция Maps, которая позволяет провести упрощенную проверку доступа периферийного сканирования к цепям платы даже без тестового проекта. Приблизительный расчет можно дополнить базовой информацией о компонентах. Разный уровень тестового доступа обозначается с помощью цветовой кодировки. C помощью базовой проверки тестового доступа в Visualizer Maps разработчик может убедиться в тестопригодности изделия и отработать окончательную версию схемы, а затем приступить к разработке проекта тестирования платы в JTAG ProVision.

Другие возможности новой версии

Visualizeon (Test) Fail.Опция позволяет автоматически отображать дефектные цепи и пины во время запуска тестовой последовательности или при отладке теста в JTAG ProVision на схеме или рисунке печатной платы.

LocateNext. Функция позволяет отслеживать дефектную цепь в разных слоях по очереди либо в разных листах схемы.

MultipleColorThemes. Можно создавать различные цветовые схемы для уровней тестового покрытия или типов дефектов и сохранять их.

Viewthroughlayers. Подсвеченная цепь (например, та, где найден дефект при тестировании) теперь может быть показана во всех слоях платы, при этом плата становится «полупрозрачной».

Addnotes. В любом месте схемы или топологии платы можно добавлять комментарии, так что остальные участники процесса разработки и тестирования изделия могут обмениваться важной информацией.

Информация с сайта ostec-electro.ru/


Оцените материал

Оценка полезности информации:
Оценка полноты информации:  
Оценка изложения информации:  
Комментарий:  
 



Новое на форуме

Re: Ремонт DEK ELA
Продажа Паяльных станций Pace.
Re: СМД-установщик и 10 кОм
Продажа Mistral 360 (б/у)

Последние новости

В России запущен в работу суперсовременный комплекс 3D-автоматической оптической инспекции OMRON
подробнее
Остек-ЭК: завершен масштабный проект с ОАО «ИНТЕГРАЛ»
подробнее
Уникальное предложение на измерительные приборы Keysight Technologies
подробнее
На новом заводе «Совтест АТЕ» запустили 3-ю линию поверхностного монтажа, в состав которой входит новейший установщик JUKI RS-1
подробнее
Открыта регистрация посетителей на выставку «ЭкспоЭлектроника». Чем удивит Актаком?
подробнее
Открыта I очередь завода «Датчики и системы»
подробнее
ГК "ДИАЛ": результат работы последних 5 лет - снижение цен
подробнее
© “Элинформ” 2007-2018.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства