Новости технологии

Компания Lloyd Doyle продемонстрирует оборудование IBIS для инспекции столбиковых выводов на выставке Productronica 2007

Фото с сайта www.smtnet.com

Компания Lloyd Doyle объявила о показе своей системы IBIS – новой разработки для проведения инспекции столбиковых выводов – на стенде A1-347 предстоящей выставки Productronica 2007, которая пройдет 13-16 ноября в торговом центре Munich Trade Fair Center (Мюнхен, Германия).

Интерферометрическая система инспекции столбиковых выводов (Interferometric Bump Inspection System, IBIS) использует развивающуюся технологию для проведения контроля столбиковых выводов на кристаллоносителях в условиях промышленного производства. Ее задачами является контроль и составление отчетов о позиционировании, высоте и форме столбиковых выводов, расположенных на той стороне кристаллоносителя, к которой будет присоединяться полупроводниковый кристалл, с целью убедиться в том, что параметры кристаллоносителей находятся в необходимых пределах для последующего монтажа кристаллов.

Система разработана для проведения контроля как калиброванных по форме, так и некалиброванных столбиковых выводов, расположенных на областях кристаллоносителей, предназначенных для монтажа кристаллов. Она обладает способность проводить сканирование 3000 кристаллоносителей в час и выдавать информацию по высоте, объему, степени округлости и копланарности столбиковых выводов.

Система IBIS использует технологию параллельной цифровой обработки сигналов в сочетании с методом интерферометрии с применением чистого белого освещения, что, как утверждает производитель, обеспечивает улучшение характеристик системы в 20-30 раз по сравнению с установками предыдущего поколения. Собственные разработки компании Lloyd Doyle выводят систему IBIS на передний край технологий измерений столбиковых выводов. Эта высокоэффективная технология распространится в будущем на измерение столбиковых выводов на полупроводниковых пластинах и чипах.

«Эта система обеспечивает прорыв в области точного и быстрого контроля и измерения параметров столбиковых выводов, – сказал Рой Ллойд (Roy Lloyd), глава компании-разработчика. – Она даст производителям возможность не только измерять столбиковые выводы на кристаллоносителях в лабораторных условиях, но проводить их 100%-контроль на производстве».

Информация с сайта www.smtnet.com.