Новое оборудование и материалы

Компания CyberTECHNOLOGIES представит новую оптическую систему трехмерных измерений на выставке IMAPS 2009

Фото с сайта www.globalsmt.net

Компания CyberTECHNOLOGIES представит серию CT – новую высокопроизводительную линейку систем бесконтактных оптических 3D-измерений поверхности на выставке IMAPS 2009, которая пройдет 1 – 5 ноября 2009 г. в Выставочном центре Сан-Хосе (США).

Как утверждает разработчик, новые системы серии CT обеспечивают отличную производительность при проведении 3D-измерений с разрешением вплоть до 3 мкм. Эти системы проводят более точные и быстрые измерения большинства микрорельефов поверхности или толщин пленок конформных покрытий и других материалов (влажных или сухих).

Высокоскоростные сканирующие координатные XY-столы с линейными приводами размером 100, 200 и 300 мм и встроенные лазерные, интерферометрические датчики или датчики белого света обеспечивают управление процессами в производственных условиях, быстрое сканирование трехмерных образцов, работу по предварительно запрограммированным тестовым шаблонам или проведение быстрых отдельных измерений при НИОКР.

Новая технология датчиков значительно увеличивает возможности системы в области проведения измерений с очень высокой разрешающей способностью на прозрачных или сильно отражающих поверхностях. Это дает пользователям возможность в большинстве задач заменить свой традиционный и медленный профилометр с измерительным наконечником и проводить измерения в отсутствии контакта с подверженным повреждениям объектом измерений или его поверхностью, при увеличении на порядок скорости сканирования.

Программное обеспечение от компании cyberTECHNOLOGIES предлагает развитый анализ измерений поверхности и автоматизированные измерительные процедуры для большинства микрорельефов поверхности. В его функции включен быстрый анализ сканированного изображения, а также автоматизированное сканирование в пошаговом режиме. С помощью программного пакета ASCAN пользователи могут реализовать функцию годен/не годен и получить результаты по статистическому управлению процессом и CpK процесса.

Более подробная информация – на сайте производителя, компании CyberTECHNOLOGIES: www.cybertechnologies.com.

Информация с сайта www.globalsmt.net.