Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Новая сканирующая 3D-система измерения электромагнитных помех от компании APREL Laboratories - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Новая сканирующая 3D-система измерения электромагнитных помех от компании APREL Laboratories  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Новая сканирующая 3D-система измерения электромагнитных помех от компании APREL Laboratories

Новое оборудование и материалы

26 августа 2010

Новая сканирующая 3D-система измерения электромагнитных помех от компании APREL Laboratories

Модель EM-ISight от компания APREL Laboratories представляет собой компактную настольную роботизированную систему сканирования, которая способна определять местоположение проблемных источников электромагнитных помех с точностью ±0,05 мм. Система позволяет проводить испытания согласно JIS T060-1-1-2 и IEC 60601-1-1-2 с целью поддержки стандартов японского добровольного контрольного совета по помехам (Voluntary Control Council for Interference, VCCI) оборудования информационных технологий.

В противоположность традиционным системам, использующим для позиционирования измерительных пробников роботы, работающие в декартовой системе координат, модель EM-ISight использует пяти- или шестиосевой шарнирный робот DENSO, позволяющий осуществлять горизонтальное, вертикальное или вращательное сканирование изделия в его позиции, результатом чего становится трехмерный профиль измерений. Также в противоположность традиционным системам модель EM-ISight обладает функцией динамического касания, которая автоматически определяет положение измерительных пробников над каждым компонентом, устраняя необходимость требующей больших затрат времени ручной наладки.

Широкий диапазон частот 100 кГц – 6 ГГц вместе с большой областью испытания вплоть до 700 мм² позволяет использовать систему в широком спектре приложений, включая ПП, ИС, схемы РЧ-идентификации, ЖК-дисплеи мобильных телефонов, конструкции антенн, оптимизацию GPS, определение источников помех и разработку топологии платы.

Модель EM-ISight предназначена для использования в качестве основного испытательного инструмента в области электромагнитных помех для исследований и разработки, предварительных испытаний на совместимость или контроля качества. Соотнеся имеющиеся данные измерений с данными, полученными от модели EM-ISight, инженеры могут быть уверены в том, что их конструкция пройдет поверочные испытания и, таким образом, будет в состоянии сократить объем дорогостоящих испытаний в камере. Динамическая база данных и опция поиска и извлечения результатов дает возможность нескольким удаленным пользователям просматривать данные испытаний по всему процессу конструирования.

Информация с сайта www.emsnow.com.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства