Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Новая система комбинирует преимущества «летающих щупов» и периферийного сканирования - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Новая система комбинирует преимущества «летающих щупов» и периферийного сканирования  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Новая система комбинирует преимущества «летающих щупов» и периферийного сканирования

Новое оборудование и материалы

17 сентября 2010

Новая система комбинирует преимущества «летающих щупов» и периферийного сканирования

Эйндховен, Нидерланды

Фото с сайта www.jtag-technologies.ru

Компания Huntron Inc, уже более 30 лет являющаяся одним из ведущих поставщиков оборудования для диагностики и ремонта ПП, и JTAG Technologies, крупнейший мировой производитель средств периферийного сканирования, сегодня анонсировали интеграцию своих тестовых методов в широком спектре зондовых сигнатурных анализаторов Huntron.

«Huntron Tracker» – это система детектирования дефектов собранных ПП, основанная на аналоговом сигнатурном анализе. С сегодняшнего дня ее пользователи смогут протестировать также и цифровую часть, используя возможности периферийного сканирования JTAG таких микросхем, как FPGA, CPLD, DSP и микроконтроллеры. Технология JTAG на сегодняшний день доступна для большинства цифровых изделий.

«Оборудуя системы Huntron, использующие роботизированные технологии, возможностью периферийного сканирования вы можете значительно увеличить тестовое покрытие, достигнутое данными тестовыми системами», – добавляет Питер ван ден Эйнден, президент JTAG Technologies. «Принцип работы интегрированного решения в синхронной работе стимуляции/измерения зондами Huntron и тестовых векторов периферийного сканирования, генерируемых оборудованием JTAG Technologies. Примером может послужить проверка целостности цепей на обрыв между компонентами с поддержкой периферийного сканирования и любыми тестовыми точками на плате, где обеспечен доступ роботизированных зондов».

Говорит Билл Карри, президент Huntron Inc.: «Пользователи давно просили интегрировать периферийное сканирование в наши системы. Мы очень рады сотрудничеству с JTAG Technologies, так как теперь сможем реализовать данное требование. Наши клиенты получат намного большее тестовое покрытие, при этом, практически не добавляя лишней оснастки».

Информация с сайта www.jtag-technologies.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства