Новое оборудование и материалы
17 сентября 2010
Новая система комбинирует преимущества «летающих щупов» и периферийного сканирования
Эйндховен, Нидерланды
Фото с сайта www.jtag-technologies.ru
Компания Huntron Inc, уже более 30 лет являющаяся одним из ведущих поставщиков оборудования для диагностики и ремонта ПП, и JTAG Technologies, крупнейший мировой производитель средств периферийного сканирования, сегодня анонсировали интеграцию своих тестовых методов в широком спектре зондовых сигнатурных анализаторов Huntron.

«Huntron Tracker» – это система детектирования дефектов собранных ПП, основанная на аналоговом сигнатурном анализе. С сегодняшнего дня ее пользователи смогут протестировать также и цифровую часть, используя возможности периферийного сканирования JTAG таких микросхем, как FPGA, CPLD, DSP и микроконтроллеры. Технология JTAG на сегодняшний день доступна для большинства цифровых изделий.
«Оборудуя системы Huntron, использующие роботизированные технологии, возможностью периферийного сканирования вы можете значительно увеличить тестовое покрытие, достигнутое данными тестовыми системами», – добавляет Питер ван ден Эйнден, президент JTAG Technologies. «Принцип работы интегрированного решения в синхронной работе стимуляции/измерения зондами Huntron и тестовых векторов периферийного сканирования, генерируемых оборудованием JTAG Technologies. Примером может послужить проверка целостности цепей на обрыв между компонентами с поддержкой периферийного сканирования и любыми тестовыми точками на плате, где обеспечен доступ роботизированных зондов».
Говорит Билл Карри, президент Huntron Inc.: «Пользователи давно просили интегрировать периферийное сканирование в наши системы. Мы очень рады сотрудничеству с JTAG Technologies, так как теперь сможем реализовать данное требование. Наши клиенты получат намного большее тестовое покрытие, при этом, практически не добавляя лишней оснастки».
Информация с сайта www.jtag-technologies.ru.
|