Новости технологии

Новый тестер ионных загрязнений от компании Gen3 Systems помогает в решении проблем управления технологическим процессом бессвинцовой пайки

Компания Gen3 Systems Limited объявила о выпуске новой напольной модели тестера ионных загрязнений CM60, которая дополняет модельный ряд тестеров компании, включающий также настольные модели CM11 и CM12, предназначенные для тестирования небольших плат и компонентов.

CM60 представляет собой полностью новую напольную модель тестера – объемную испытательную камеру, которая создана с целью избавить пользователей от необходимости подсчитывать площадь поверхности тестируемой сборки, а также в состоянии работать с широкой номенклатурой тестируемых изделий с габаритами до 600 x 550 x 60 мм.

Модель CM60 подходит для использования как в качестве автономной установки, осуществляющей мониторинг чистоты сборок в ходе технологического процесса (например, для незавершенного производства сборок), так и будучи встроенной в технологическую линию как инструмент статистического управления процессом на основе выборок – в начале линии либо после пайки волной с целью обнаружения недопустимого ухода параметров техпроцесса перед тем, как он станет основной причиной образования дефектов.

Так как CM60 предназначена для работы на производственном участке, управлять ею просто даже оператору, не обладающему высокой квалификацией. Единственной ручной операцией является установка сборки перед началом тестирования и снятие ее после завершения теста. После проведения начальной настройки параметров тестера все дальнейшие циклы тестирования полностью автоматизированы.

Результаты тестирования представляются в графическом виде и могут быть использованы в дальнейшем для статистического анализа. Степень загрязнения сборки непосредственно соотносится с тем, была ли сборка успешно пропаяна, или же пайка происходила при неоптимальных режимах. Более того, результаты тестирования могут также служить индикатором вероятности отказа сборки в процессе эксплуатации как результат воздействия внешних условий, способствующих росту таких снижающих надежность образований, как дендриты и интерметаллиды.

Как утверждает производитель, модель CM60 обеспечивает исключительную точность измерений на уровне 0,005 мСм/см даже в условиях очень низких значений удельной проводимости. В электронную систему управления установкой встроена система автоматической компенсации температуры. Проводится мониторинг температуры, и все измерения нормируются в соответствии с международной стандартной температурой 20°С.

Программное обеспечение системы CM 60 работает под управлением Windows® XP или Vista и имеет дружественный к оператору интерфейс. Результаты тестирования включают в себя анализ «годен/не годен» и могут представляться в двух- и трехмерном виде; для облегчения анализа представленной информации изображение может поворачиваться. Кроме того, ПО осуществляет простой экспорт тестовых результатов в другие текстовые редакторы и системы статистического управления процессами.

Информация с сайта www.global-electronics.net.