Новости технологии

Доступное законченное решение для тестирования смарт-карт, радиочастотных меток и УВЧ-элементов

Сочетая высокоэффективную установку тестирования полупроводниковых изделий серии COMPTEST CT 1000 с держателем изделий H1000 с помощью специального адаптера под конкретное изделие или антенного модуля, новая разработанная компанией SPEA тестовая платформа представляет собой законченное решение для выходного контроля в производстве смарт- и микропроцессорных карт, а также УВЧ- элементов /радиочастотных меток, работающих при контакте, в бесконтактном либо комбинированном режиме – как при физическом контакте, так и посредством ВЧ-соединения.

Данная гибкая тестовая платформа обеспечивает, по словам разработчика, исключительно высокую производительность – 60000 компонентов/час, рассчитанную на основе полного времени цикла тестирования, равного 300 мс. Наименьшая конфигурация системы имеет 8 работающих параллельно тестовых стендов, а максимальная производительность может быть достигнута при одновременном тестировании 32 изделий. Во всех конфигурациях системы возможно проведение синхронных и асинхронных тестовых процедур как для RFID/УВЧ-элементов, так и для микропроцессорных карт/смарт-карт.

Система тестирования состоит из трех базовых моделей. Полнофункциональная универсальная система CT1000 предназначена для тестирования полного спектра RFID/УВЧ- элементов в диапазоне частот до 1,2 ГГц, а также микропроцессорных карт/смарт-карт в любых вариантах исполнения – работающих при контакте, в бесконтактном либо комбинированном режиме. Модель CT1100 ориентирована исключительно на тестирование УВЧ- элементов в соответствии с протоколом ISO 18000. Наконец, модель CT1200 обеспечивает тестирование радиочастотных меток (но не УВЧ- элементов) и также всех микропроцессорных карт/смарт-карт, поддерживая все основные тестовые процедуры и протоколы.

Диапазон частот RFID-каналов простирается от 125 кГц до 15 МГц, а для УВЧ-каналов – от 800 МГц до 1,5 ГГц. Цифровые каналы (16 бит, 1,5 – 6,5 В) покрывают диапазон до 100 МГц. Также могут быть реализованы до 192 аналоговых каналов (16 бит), поддерживающих нагрузку до 10 В/100 мA. Благодаря этим возможностям может быть достигнута высокая точность измерений и одновременное значительное сокращение времени цикла тестирования. Каждый одиночный RFID-канал поддерживается программируемым логическим устройством, в память которого автоматически загружается соответствующий протокол при выполнении конкретной тестовой программы. Эта процедура гарантирует, что протокол связи устройства, подвергающегося тестированию, действительно декодируется в режиме параллельной обработки.

Система компании SPEA поддерживает множество стандартов и протоколов связи. Для контактных микропроцессорных и смарт-карт ими являются Vcc, Clock, Rst, IO и IO2 в соответствии с ISO 7816/7813. Для бесконтактных устройств проводятся тестовые процедуры в соответствии с ISO 14443, включая суб-протоколы, такие, как Type A, Type B и I-code, дополненные ISO 15693 и его суб-протоколами 1-from-4 и 1-from-256. Дополнительно поддерживаются протоколы MIFAREtm, FeliCAtm и ISO 11784/85. Кроме того, доступен ряд новейших протоколов, таких, как USB, MAC и I2C. Также тесты могут выполняться под управлением пользовательских протоколов, однако стоит отметить, что оригинальный протокол программируемого логического устройства является интеллектуальной собственностью компании SPEA.

Для проверки радиочастотных меток система использует все значимые инструкции устройства, например, REQA, Wake-up, Select, Memory Test и многие другие. Система тестирует RFID-устройства с помощью контактов-иголок адаптерной платы (подобно проведению внутрисхемного тестирования) или в бесконтактном режиме посредством антенного модуля. Обе различные конфигурации тестовых каналов, УВЧ и RFID, оснащены программируемыми логическими устройствами и цифровыми сигнальными процессорами.

В зависимости от принадлежности тестируемого устройства к той или иной категории может быть измерена емкость и индуктивность его соответствующей входной цепи. Кроме того, могут быть проведены предварительные тесты на короткие замыкания, разрывы или утечки с целью убедиться в надежности, целостности и воспроизводимости полученных результатов, а также для проверки электрического контактирования игл адаптера. Также может быть проверено наличие пассивных компонентов, таких, как резисторы, конденсаторы или колебательные контуры. Для бесконтактных устройств может быть надежно подтверждено рабочее расстояние, на котором возможна связь с ВЧ-устройством. Также важно измерение глубины модуляции с целью оценки чистоты, силы и качества ответного сигнала, отраженного от тестируемого компонента. Эти тесты возможно производить непосредственно на полупроводниковой пластине.

Более подробная информация – на сайте производителя, компании SPEA: www.spea.com.

Информация с сайта www.globalsmt.net.