Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Совет JEDEC объявил о выпуске стандарта JESD9B по критерию инспекции микроэлектронных корпусов и крышек - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Совет JEDEC объявил о выпуске стандарта JESD9B по критерию инспекции микроэлектронных корпусов и крышек  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости практической технологии » Совет JEDEC объявил о выпуске стандарта JESD9B по критерию инспекции микроэлектронных корпусов и крышек

Новости практической технологии

22 июня 2011

Совет JEDEC объявил о выпуске стандарта JESD9B по критерию инспекции микроэлектронных корпусов и крышек

Логотип с сайта www.smtnet.com

Совет JEDEC объявил о выпуске подвергшегося значительным изменениям стандарта по инспекции микроэлектронных корпусов и крышек – JESD9B (Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers). Стандарт можно бесплатно загрузить с веб-сайта JEDEC.

Целью данного стандарта является проверка качества изготовления и соответствия техническим требованиям микроэлектронных корпусов и крышек, предназначенных для производства гибридных микроэлектронных схем. Стандарт применяется производителями корпусов и микросхем на операциях от входного контроля элементов корпуса до выходного контроля готовой микросхемы. Стандарт JESD9B также заменяет собой и включает в себя полностью переписанный стандарт JESD27 «Технические требования к керамическим корпусам для микроэлектроники» (Ceramic Package Specification for Microelectronic Packages). Помимо этого, стандарт JESD9B включает в себя все относящиеся к данному вопросу области стандарта MIL-STD-883 и метода испытаний 2009: External Visual, при этом его предполагается использовать в сочетании с данными документами, а не в противоречии с ними.

Используя достижения в отрасли корпусирования, а также историю отказов у пользователей, в стандарт JESD9B включен новый критерий, а также обновлен ранее применявшийся. Там, где это соответствует выросшему качеству, значение критерия увеличивается, и снижается там, где это обосновано предысторией его применения. Стандарт снабжен четкими и простыми для понимания цветными фотографиями или диаграммами для всех перечисленных состояний.

По материалам www.smtnet.com.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства