Новое оборудование и материалы

Компания GE представляет установку рентгеновского контроля phoenix x|aminer с высоким разрешением

Фото с сайта www.globalsmt.net

Новая установка phoenix x|aminer от подразделения компании GE по технологиям инспекции (Inspection Technologies) представляет собой 5-осевую микрофокусную систему рентгеновского контроля, предназначенную для решения задач управления качеством в производстве электронных сборок. Система, по словам производителя, особенно хорошо подходит для надежного и точного контроля паяных соединений. Особенностью установки phoenix x|aminer является большое увеличение и высокая разрешающая способность в 2 МП, а развитое программное обеспечение позволяет осуществлять интуитивно понятное программирование и манипулировать компонентами с помощью компьютерной мыши или джойстика.

Важной особенностью конструкции установки является модуль ovhm (oblique view high magnification – обзора под углом с большим увеличением), который позволяет осуществлять обзор под углом вплоть до 70°, а также обеспечивает полное увеличение вплоть до 23000х, что позволяет получить информацию наилучшего качества по дефектам в вертикальном направлении. Легкость технического обслуживания обеспечивается открытой конструкцией 160 кВ микрофокусной трубки, где практически неограниченный срок службы обеспечивается простотой замены катода, а 20 Вт мощности трубки на мишени обеспечивает проникновение даже сквозь компоненты, сильно поглощающие радиацию.

Новая установка x|aminer поставляется вместе с недавно выпущенным программным обеспечением phoenix x|act, специально предназначенным для контроля изделий электроники. Простая запись макросов позволяет легко программировать задачи контроля в том, что касается позиционирования и параметров изображения, а все изменения можно сохранить одним щелчком мыши. Автоматически создаваемые карты образцов могут применяться для всех сборок данного типа в пределах всей системы, даже при их повороте и перевороте, а автоматическое улучшение изображения обеспечивает повышенную вероятность обнаружения дефектов.

По материалам www.ge-mcs.com.