Новости международного рынка

Заседание Международной электротехнической комиссии в Нью-Йорке

Фото с сайта dipaul.ru

23 – 24 июня 2011 года в Нью-Йорке (США) прошло заседание технического комитета № 101 (Электростатика) Международной электротехнической комиссии. На заседании комитета присутствовало более 40 представителей национальных технических комитетов из Германии, Канады, Нидерландов, России, США, Швейцарии, Швеции и Японии. Россия была представлена участниками отечественного технического комитета по стандартизации А.С. Кривовым (Метрологическая ассоциация промышленников и предпринимателей), Д.В. Трегубовым («ЕСД Эксперт») и С.А. Честниковой (НПФ «Диполь»).

Международная электротехническая комиссия (International Electrotechnical Commission, IEC) – международная некоммерческая организация по стандартизации в области электрических, электронных и смежных технологий. Некоторые из стандартов МЭК разрабатываются совместно с Международной организацией по стандартизации (ISO).

Основные итоги заседания технического комитета No.101 приводятся ниже.

Внесение существенных изменений в стандарты:

• 61340-5-1 Защита электронных устройств от электростатических явлений – Общие требования
• 61340-5-3 Защита электронных устройств от электростатических явлений – Методы испытаний упаковочных материалов, предназначенных для чувствительных к электростатике устройств

Внесение обновлений и принятие второй редакции стандартов:

• 61340-4-6 Стандартные методы испытаний для специального применения – Браслеты
• 61340-4-7 Стандартные методы испытаний для специального применения – Ионизация
• 61340-4-8 Стандартные методы испытаний для специального применения – Экранирование от разряда – Сумки
• 61340-4-9 Стандартные методы испытаний для специального применения – Одежда

Принятие первой редакция стандарта:

• 61340-4-10 Метод испытания защиты чувствительных к электростатике устройств – измерение сопротивления по двум точкам

Также комитетом обсуждались вопросы методов испытаний на статическое электричество для различных типов одежды, вопросы моделирования электростатических эффектов и комплексной защиты электронных устройств от электростатических явлений.

Информация с сайта dipaul.ru.