Главная » Новости » Новости технологии » Компания Agilent Technologies выпускает гибридное решение для проведения периферийного сканирования и безвекторного тестирования сборок на ПП – Boundary Scan-VTEP Hybrid
Новости технологии
18 февраля 2008
Компания Agilent Technologies выпускает гибридное решение для проведения периферийного сканирования и безвекторного тестирования сборок на ПП – Boundary Scan-VTEP Hybrid
Компания Agilent Technologies Inc. объявила о том, что предложит пользователям систем внутрисхемного тестирования инновационный способ проведения тестов сборок на печатных платах в условиях ограниченного доступа – без негативного влияния на тестовое покрытие или время вывода продукции на рынок и с одновременной экономией на стоимости оснастки и сокращением задействованных в проведении тестирования ресурсов.
Данная технология совмещает в себе две общепризнанные в производстве электроники тестовые методики – периферийное сканирование и запатентованную компанией Agilent VTEP-технологию безвекторного тестирования. Результатом, по словам разработчика, явилось исключительно мощное средство, которое сочетает в себе стандартизованные возможности периферийного сканирования в области цифровых сигналов и ограниченного доступа к тестовым точкам с простотой безвекторного тестирования по технологии VTEP.
Данная технология, как утверждает разработчик, имеет исключительное влияние на затраты и качество тестирования. Производители электронных сборок теперь получают возможность проектировать платы с меньшим количеством точек электрического тестирования, что снижает затраты на тестовую оснастку и сокращает задействуемые при тестировании ресурсы. Кроме того, применение меньшего количества тестовых пробников в оснастке означает меньшую механическую нагрузку на тестируемые сборки.
«Компания Agilent продолжает поставлять на рынок реальные решения, которые соответствуют тенденциям сокращения затрат в современных производственных условиях. Данная технология базируется на более ранних инновациях Agilent в области внутрисхемного тестирования, таких, как VTEP v2.0, Bead Probe Technology, а также возможностям в части стандарта 1149.6», – отметил Эдриан Чонг (Adrian Cheong), менеджер по маркетингу систем внутрисхемного тестирования подразделения измерительных систем компании Agilent (Measurement Systems Division).
Информация с сайта www.emsnow.com.
|