Новое оборудование и материалы

Эмуляция процессора совместно с внутрисхемным тестированием от GOEPEL

Компания GOEPEL electronic представляет TIC022, интерфейсный контроллер TAP для аппаратной платформы периферийного сканирования SCANFLEX^®.

Новый модуль TIC обладает программируемым многошинным интерфейсом, обеспечивая практически неограниченную совместимость с множеством стандартных и проприетарных протоколов отладки процессоров. Модуль TIC022 может быть использован в таких критичных приложениях, как внутрисхемное тестирование.

TIC022 представляет собой активный тестовый разъем, специально предназначенный для использования совместно с адаптивной потоковой технологией VarioTAP^®. В дополнение к сигналам шины он обеспечивает несколько сигналов эмуляции, обеспечивающий гибкую интеграцию в потоковую процедуру. Таким образом, TIC022 охватывает множество различных протоколов, включая IEEE1149.1, IEEE1149.6, IEEE1149.7, IEEE1532 и IEEE-ISTO 5001, а также ряд не-JTAG протоколов, таких как BDM (Background Debug Mode) от компании Freescale^®, SBW (Spy-Bi-Wire) от Texas Instruments^®, SWD (Serial Wire Debug) от ARM^® и многие другие.

Дифференциальные пары тестового разъема с TAP-трансиверами SCANFLEX^® расположены снаружи приспособления, что обеспечивает высокоскоростную передачу данных без интерференции с частотой до 80 Мгц на расстояние до 4-х метров. При этом отсутствуют потери производительности из-за задержек в кабеле, и тестируемые устройства могут быть индивидуально сбалансированы при помощи технологии ADYCS™.

Новый представитель семейства модулей TIC обладает тем же интерфейсом, что и стандартный модуль TIC02, что позволяет легко модернизировать имеющееся оборудование. Новый модуль автоматически распознается программным обеспечением для периферийного сканирования по стандарту JTAG SYSTEM CASCON™ и доступен для немедленного применения в задачах тестирования на производстве.

Информация с сайта goepel.com.